[发明专利]一种边界扫描实验方法、系统及目标装置

说明书

技术领域

本发明关于边界扫描测试技术领域，特别是用于教学和实训的边界扫描测试实验技术，具体的讲是一种边界扫描实验方法、系统及目标装置。 

背景技术

边界扫描技术是一种测试性设计技术，其基本的思想是在芯片的引脚上增加串行连接的寄存器单元，实现对信号的能控和能观性。边界扫描测试是目前电子电路测试中最为有效的测试手段之一，得到越来越广泛的重视和应用，成为许多测试工程师以及相关学习者必须学习和掌握的内容。 

但是，由于边界扫描技术的测试结构相对复杂，测试矢量的产生以及测试响应的分析掌握起来比较繁复，在实际应用中要求测试者具有相当的硬件和软件基础；另一方面，除了边界扫描相关的技术标准以外，市场上还没有专门针对边界扫描技术的学习和实验装置，给初学者造成不便。 

发明内容

本发明实施例提供了一种边界扫描实验方法、系统及目标装置，用以使学习者能够较快的掌握边界扫描测试的基本硬件结构、测试矢量的产生方法以及测试响应的分析方法等。 

本发明的目的之一是，提供一种边界扫描实验方法，该方法包括：获取边界扫描测试程序；根据边界扫描测试程序的功能和时序生成测试总线信号；将测试总线信号通过测试访问端口TAP输入到连接有选通开关、边界扫描BS芯片和被测芯片的边界扫描测试链路中；根据边界扫描测试程序的功能选通对应选通开关的开/关状态，以使测试总线信号通过对应的边界扫描链路返 回到TAP；对TAP返回的测试总线信号进行分析和诊断，输出测试结果。 

本发明的目的之一是，提供一种边界扫描实验系统，该系统包括：边界扫描主控装置和边界扫描实验目标装置；边界扫描主控装置包括：测试程序获取单元，用于获取边界扫描测试程序；测试信号生成单元，用于根据边界扫描测试程序的功能和时序生成测试总线信号；TAP单元，用于将测试总线信号输入给边界扫描实验目标装置；测试结果输出单元，用于对TAP单元返回的测试总线信号进行分析和诊断，输出测试结果；边界扫描实验目标装置包括：连接有选通开关、边界扫描BS芯片和被测芯片的边界扫描测试链路，用于接收TAP单元输入的测试总线信号，并根据边界扫描测试程序的功能选通对应选通开关的开/关状态，以使测试总线信号通过对应的边界扫描链路返回到TAP单元。边界扫描测试程序的功能包括：簇测试功能、互连测试功能、自测试功能或模拟电路测试功能；其中，边界扫描实验目标装置包括：簇测试功能模块，用于根据边界扫描测试程序的簇测试功能选通对应选通开关的开/关状态，以使BS芯片环绕于无边界扫描结构的被测芯片周围，测试总线信号通过四片BS芯片返回到所述的TAP单元；互连测试功能模块，用于根据所述边界扫描测试程序的互连测试功能选通对应选通开关的开/关状态，以使测试总线信号通过两片BS芯片返回到TAP单元；自测试功能模块，用于根据边界扫描测试程序的自测试功能选通对应选通开关的开/关状态，以使测试总线信号通过一片BS芯片返回到TAP单元；簇测试功能的测试链路中包含的器件有：作为BS芯片的4个SN74BCT8373（102a，102b，102c，102d），并且选通开关的设置为：跳线开关JP1、JP3、JP4和JP5闭合，JP2断开；测试链路的路径为：AVR单片机的TDI端口→SN74BCT8373芯片102a→SN74BCT8373芯片102b→SN74BCT8373芯片102c→SN74BCT8373芯片102d→AVR单片机的TDO4端口；所述的互连测试功能的测试链路包含：作为BS芯片的SN74BCT8373芯片102a和SN74BCT8373芯片102b；并且选通开关的设置为：跳线开关JP1、JP3、JP4和JP5断开，JP2闭合；测试链路的路径 为：AVR单片机的TDI端口→SN74BCT8373芯片102a→SN74BCT8373芯片102b→AVR单片机的TDO4端口；所述的自测试功能的测试链路中包含的器件有：作为BS芯片的SN74BCT8373芯片102a，并且选通开关的设置为：跳线开关JP1、JP3、JP4和JP2断开，测试链路的路径为：AVR单片机的TDI端口→SN74BCT8373芯片102a→AVR单片机的TDO4端口；所述的模拟电路测试功能的测试链路中包含的器件有：STA400，并且测试链路的路径为：AVR单片机的TDI端口→STA400→模拟信号采样电路→STA400→AVR单片机的TDO0端口。