[发明专利]一种边界扫描实验方法、系统及目标装置

权利要求书

1.一种边界扫描实验系统，其特征是，所述的系统包括：边界扫描主控 装置和边界扫描实验目标装置；

所述的边界扫描主控装置包括：

测试程序获取单元，用于获取边界扫描测试程序；

测试信号生成单元，用于根据所述边界扫描测试程序的功能和时序生成 测试总线信号；

TAP单元，用于将所述的测试总线信号输入给所述的边界扫描实验目标 装置；

测试结果输出单元，用于对所述TAP单元返回的测试总线信号进行分析 和诊断，输出测试结果；

所述的边界扫描实验目标装置包括：

连接有选通开关、边界扫描BS芯片和被测芯片的边界扫描测试链路，用 于接收所述TAP单元输入的测试总线信号，并根据所述边界扫描测试程序的 功能选通对应选通开关的开/关状态，以使所述的测试总线信号通过对应的边 界扫描测试链路返回到所述的TAP单元；

所述边界扫描测试程序的功能包括：簇测试功能、互连测试功能、自测 试功能或模拟电路测试功能；

其中，所述的边界扫描实验目标装置包括：

簇测试功能模块，用于根据所述边界扫描测试程序的簇测试功能选通对 应选通开关的开/关状态，以使所述的BS芯片环绕于无边界扫描结构的被测 芯片周围，测试总线信号通过四片BS芯片返回到所述的TAP单元；

互连测试功能模块，用于根据所述边界扫描测试程序的互连测试功能选 通对应选通开关的开/关状态，以使所述的测试总线信号通过两片BS芯片返 回到所述的TAP单元；

自测试功能模块，用于根据所述边界扫描测试程序的自测试功能选通对 应选通开关的开/关状态，以使所述的测试总线信号通过一片BS芯片返回到 所述的TAP单元；

所述的簇测试功能的测试链路中包含的器件有：作为BS芯片的 SN74BCT8373（102a）、SN74BCT8373（102b）、SN74BCT8373（102c）和SN74BCT8373 （102d），并且选通开关的设置为：跳线开关JP1、JP3、JP4和JP5闭合，JP2 断开；测试链路的路径为：AVR单片机的TDI端口→SN74BCT8373（102a） →SN74BCT8373（102b）→SN74BCT8373（102c）→SN74BCT8373（102d）→AVR 单片机的TDO4端口；

所述的互连测试功能的测试链路包含：作为BS芯片的SN74BCT8373（102a） 和SN74BCT8373（102b）；并且选通开关的设置为：跳线开关JP1、JP3、JP4 和JP5断开，JP2闭合；测试链路的路径为：AVR单片机的TDI端口 →SN74BCT8373（102a）→SN74BCT8373（102b）→AVR单片机的TDO4端口；

所述的自测试功能的测试链路中包含的器件有：作为BS芯片的 SN74BCT8373（102a），并且选通开关的设置为：跳线开关JP1、JP3、JP4和 JP2断开，测试链路的路径为：AVR单片机的TDI端口→SN74BCT8373（102a） →AVR单片机的TDO4端口；

所述的模拟电路测试功能的测试链路中包含的器件有：STA400，并且测 试链路的路径为：AVR单片机的TDI端口→STA400→模拟信号采样电路 →STA400→AVR单片机的TDO0端口。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征是，所述的边界扫描实验目标装 置还包括：

模拟信号采样电路，用于接收所述TAP单元输入的测试总线信号，并根 据所述的测试总线信号对所述的边界扫描实验目标装置的模拟信号进行采 样，将采集的模拟信号转换为测试响应信号，返回到所述的TAP单元。