[发明专利]测试装置、测试方法和程序

说明书

技术领域

本发明涉及使用测试矢量数据测试经历检查的电路的测试装置、测试方法和程序，在所述测试矢量数据中描述要输入经历检查的电路的输入信号。

背景技术

近年来，使用电子电路的系统发展有更高的功能和更多复杂性。结果，在这样的系统中安装的硬件具有更大的电路规模和增加的复杂性。在系统设计中，硬件和软件的验证对于确保系统如所指定的一样运转是非常重要的。

在硬件设计中，功能的验证占据了大部分设计时段。随着电路的规模和复杂性增加，用于这种功能的验证的工时(person-hours)数也在增加。在这种背景的情况下，考虑用于缩短功能的验证的措施。缩短验证时段的示例性方法包括通过硬件仿真的加速缩短验证时段的方法和随机生成测试矢量数据的方法。

在日本未审专利申请公开No.2001-167141、2006-58172和2007-47109中公开了涉及测试矢量的创建和验证的技术。

日本未审专利申请公开No.2001-167141公开了故障仿真器。该故障仿真器执行具有对应于操作模式激活的不同组件部分的集成电路的故障仿真，并且基于电路设计数据分类测试矢量。仿真器然后使用分类的测试矢量执行每一操作模式的集成电路的故障仿真。

日本未审专利申请公开No.2006-58172公开了测试模式生成程序。该测试模式生成程序基于网络列表(netlist)生成电路的端子信息，选择激活生成的端子信息的端子的激活测试序列，并且使用该激活测试序列生成测试序列。

在日本未审专利申请公开No.2007-47109中，包括在测试数据中的信息(如信号信息)分类为用于创建中间数据的每个类型，并且故障信息添加到中间数据以创建用于故障分析的测试数据。

以此方式，在日本未审专利申请公开No.2001-167141、2006-58172和2007-47109中，使用电路信息、故障信息等创建测试矢量，或者使用电路信息、故障信息等选择适当的测试矢量。

发明内容

在实际生产点，通常通过组合使用测试矢量数据的验证和使用随机矢量数据的验证来执行硬件功能的验证。

在使用测试矢量数据的验证中，设计者创建矢量。因此，可能为验证创建高质量、检测硬件缺陷的可能性高和适于经历验证的电路的测试矢量数据。

然而，在手动地创建测试矢量数据的情况下，花费时间和精力来创建测试矢量数据。结果，极难在短的设计时段中创建足够的测试矢量数据。还难以用不同于创建的测试矢量数据的矢量数据验证。

另一方面，在使用随机矢量数据的验证中，因为不是手动地生成随机矢量数据，所以不花费时间和精力来创建矢量数据。

然而，在随机矢量数据中，包括不可能手动创建为测试矢量数据的矢量数据项。在使用随机矢量数据的验证中，要验证的矢量数据的数目因此增加，并且仿真时段结果比使用测试矢量数据的验证的仿真时段长。

结果，在实际生产点，即使通过组合使用测试矢量数据的验证和使用随机矢量数据的验证来验证硬件功能，也难以在短时间段中完成硬件功能的充分验证。

希望提供一种测试装置、测试方法和程序，其能够通过改进硬件功能的验证的效率缩短验证时段。

根据本发明实施例的测试装置包括：矢量存储器单元，存储其中描述要输入经历检查的电路的输入信号的原始测试矢量数据；矢量生成器，从所述矢量存储器单元中存储的原始测试矢量数据生成不同于所述原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据；输出部分，输出要输入经历检查的电路的测试矢量数据；故障出现率存储器单元，存储在所述原始测试矢量数据中描述的输入信号的故障出现率；随机数生成器，生成随机数数据；以及比较部分，比较所述故障出现率存储器单元中存储的输入信号的故障出现率与所述随机数数据。在所述随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出生成的测试矢量数据，并且在所述随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出原始测试矢量数据。

优选地，所述测试装置还可以包括程序存储器单元，存储其中描述转换规则的转换程序，以便从其中描述要输入经历检查的电路的标准输入信号的标准测试矢量数据生成验证测试矢量数据，其中描述不同于能够输入经历检查的电路的标准输入信号的输入信号。所述矢量生成器可以执行所述转换程序以从原始测试矢量数据生成生成的测试矢量数据。