[发明专利]测试装置、测试方法和程序

权利要求书

1.一种测试装置，包括：

矢量存储器单元，存储其中描述要输入到经历检查的电路的输入信号的原始测试矢量数据；

矢量生成器，从所述矢量存储器单元中存储的原始测试矢量数据生成不同于所述原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据；

输出部分，输出要输入经历检查的电路的测试矢量数据；

故障出现率存储器单元，存储在所述原始测试矢量数据中描述的输入信号的故障出现率；

随机数生成器，生成随机数数据；以及

比较部分，比较所述故障出现率存储器单元中存储的输入信号的故障出现率与所述随机数数据；

其中在所述随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出生成的测试矢量数据，并且在所述随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出原始测试矢量数据。

2.如权利要求1所述的测试装置，其中所述矢量存储器单元存储其中描述要输入经历检查的电路的标准输入信号的标准测试矢量数据作为原始测试矢量数据。

3.如权利要求1或2所述的测试装置，还包括程序存储器单元，存储其中描述转换规则的转换程序，以便从其中描述要输入经历检查的电路的标准输入信号的标准测试矢量数据生成验证测试矢量数据，在所述验证测试矢量数据中描述不同于能够输入经历检查的电路的标准输入信号的输入信号，

其中所述矢量生成器执行所述转换程序，以便从所述原始测试矢量数据生成所述生成的测试矢量数据。

4.如权利要求3所述的测试装置，其中：

所述矢量存储器单元存储其中描述要输入经历检查的电路的多个输入信号的多个原始测试矢量数据项；

所述故障出现率存储器单元在另一原始测试矢量数据项中不出现故障的情况下存储低故障出现率，而在另一原始测试矢量数据项中出现故障的情况下存储高故障出现率，作为在多个原始测试矢量数据项的一个原始测试矢量数据项中描述的输入信号的故障出现率；并且

所述比较部分在另一原始测试矢量数据项中不出现故障的情况下比较低故障出现率与随机数数据，而在另一原始测试矢量数据项中出现故障的情况下比较高故障出现率与随机数数据。

5.如权利要求1所述的测试装置，其中：

所述矢量存储器单元存储其中描述要输入经历检查的电路的多个输入信号的多个原始测试矢量数据项；

所述故障出现率存储器单元为在分别对应于所述矢量存储器单元中存储的多个原始测试矢量数据项的每个原始测试矢量数据项中描述的每个输入信号存储多个故障出现率；并且

所述比较部分为每个原始测试矢量数据项比较其中描述的输入信号的故障出现率与随机数数据。

6.如权利要求1所述的测试装置，还包括再现数据存储器单元，其积累和存储再现数据，以便再现由所述矢量生成器生成的所述生成的测试矢量数据，

其中所述矢量生成器使用在再现数据存储器单元中存储的再现数据，从原始测试矢量数据再现所述生成的测试矢量数据。

7.如权利要求6所述的测试装置，其中：

所述再现数据存储器单元存储对于生成的测试矢量数据示出从原始测试矢量数据修改的点的差别数据作为再现数据；并且

所述矢量生成器通过将所述再现数据存储器单元中存储的再现数据应用到原始测试矢量数据，再现生成的测试矢量数据。

8.如权利要求1所述的测试装置，包括仿真单元，使用从输出部分输出的测试矢量数据作为输入数据，执行电路描述程序的仿真，

其中在电路描述程序中描述经历检查的电路。