[发明专利]提高分光器性能的方法及分光器、X射线测量分析设备

说明书

技术领域

本发明涉及光学测量技术领域，尤具是涉及一种提高分光器性能的方法及分光器、X射线测量分析设备。

背景技术

波长色散型的X射线测量分析设备采用分光器对特征X射线进行分光，然后用探测器对经过分光器分光的特征X射线进行采集和后续处理。

目前公知的分光器采用平面或曲面分光晶体，分光晶体安装于分光器壳内。整个分光器一般由入射狭缝组件、分光器壳、分光晶体、出射狭缝组件等组成。由于X射线经过入谢狭缝组件进入分光器壳内后，并不是全部照射到分光晶体上，有一部分X射线可能照射到壳壁上，这部分照射到壳壁上的X射线经过一次或多次反射或激发后，也会通过出射狭缝组件射出被探测器接收到，但这一部分X射线并不是经过分光的特征X射线。因此，导致波长色散型的X射线测量分析设备的测量结果不准确。

发明内容

鉴于上述现有技术所存在的问题，本发明实施例的目的是提供一种分光器及X射线测量分析设备，可以提高分光器的性能，从而使得X射线测量分析设备的测量结果更准确。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

本发明实施例提供一种提高分光器性能的方法，该分光器包括：壳体、入射狭缝组件、分光晶体和出射狭缝组件；其中，所述入射狭缝组件和出射狭缝组件均设置在壳体上，所述分光晶体设置在壳体内作为入射狭缝组件与出射狭缝组件之间的反射体；包括：

在分光器壳体内设置射线挡块，使所述射线挡块设置在壳体内分光晶体周围，通过射线挡块吸收或阻挡从入射狭缝组件进入的能照射到壳体内壁上的部分X射线，及吸收或阻挡通过分光晶体反射后能照射到壳体内壁上的部分X射线。

所述射线挡块设置多个，多个射线挡块分布设置在壳体内的分光晶体周围。

本发明实施例还提供一种分光器，包括：壳体、入射狭缝组件、分光晶体和出射狭缝组件；其中，所述入射狭缝组件和出射狭缝组件均设置在壳体上，所述分光晶体设置在壳体内作为入射狭缝组件与出射狭缝组件之间的反射体；还包括：

射线挡块，设置在壳体内的分光晶体周围，使射线挡块吸收或阻挡从入射狭缝组件进入的能照射到壳体内壁上的部分X射线，及吸收或阻挡通过分光晶体反射后能照射到壳体内壁上的部分X射线。

所述射线挡块为多个，分布设置在壳体内的分光晶体周围的各个光路上。

所述射线挡块为五个。

所述射线挡块采用能吸收或阻挡X射线的材质制成。

所述制成射线挡块所用的材质包括：

不锈钢、铜、铁、铅中的任一种或任意几种。

所述射线挡块的形状为规则形状或不规则形状。

所述射线挡块的形状为圆形、方形、椭圆形或多边形中的任一种形状。

本发明实施例进一步提供一种X射线测量分析设备，由X光管、高压电源、探测器和分光器组成，所述分光器采用上述的分光器。

从上述本发明实施例的技术方案中可以看出，本发明实施例中通过在分光器的壳体内设置射线挡板，通过射线挡板吸收或阻挡从入射狭缝组件进入的能照射到壳体内壁上的部分X射线，及吸收或阻挡通过分光晶体反射后能照射到壳体内壁上的部分X射线。从而避免了部分X射线照射到分光器壳体的内壁上，再从壳体上的出射狭缝组件射出，使探测器接收到，而影响X射线测量分析设备检测准确度的问题。本发明以较简单的方式，可以对射线在分光器内的传播路径进行校正，避免漫反射的X射线的影响，显著提高分光器的性能，进而也提高使用该分光器的X射线测量分析设备的检测准确度。

附图说明

图1为本发明实施例提供的分光器结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明。

实施例一

本实施例一提供一种提高分光器性能的方法，适用的分光器是用在X射线测量分析设备中的分光器，如矿浆品位分析仪等，该分光器包括：壳体1、入射狭缝组件2、分光晶体4和出射狭缝组件3；其中，所述入射狭缝组件2和出射狭缝组件3均设置在壳体1上，所述分光晶体4设置在壳体1内作为入射狭缝组件2与出射狭缝组件3之间的反射体；该方法包括：