[发明专利]发光二极管及其制造方法无效
| 申请号: | 201010123344.3 | 申请日: | 2010-03-15 |
| 公开(公告)号: | CN102194944A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
| 发明(设计)人: | 黄世晟;凃博闵;吴芃逸 | 申请(专利权)人: | 展晶科技(深圳)有限公司;荣创能源科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/20 | 分类号: | H01L33/20;H01L33/22 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518109 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 发光二极管 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明关于一种发光二极管芯片及其制造方法。
背景技术
发光二极管(LED)可广泛地应用于不同的产品中,例如可应用于平面显示装置、交通信号、照明设备等等。发光二极管芯片中活性层所发出的光线,可能因为发光二极管芯片中的光学路径不佳,导致所产生的光线无法有效地传递至外界,因此而降低光的取出率及发光效率。所以,如何提高发光二极管芯片中光线的取出率或发光效率,一直是发光二极管领域的重要技术议题。
M.Hao等人曾揭露一种利用高温蚀刻氮化镓(GaN)及蓝宝石基材(phys.stat.sol.(c)1,No.10,pp.2397-2400(2004)),以形成一粗糙面的技术。其中使用的技术是先形成一氮化镓(GaN)层于蓝宝石基材上,然后在高温(1180℃)下导入氢气使GaN受热分解,并同时诱发GaN蚀刻蓝宝石基材,而在蓝宝石基材表面上形成高密度的纳米等级的陨石坑(nano-craters)。但上述方法必需额外成长一GaN层,且进行蚀刻蓝宝石基材所需的时间较长,并不经济。
Ru-Chin Tu等人曾揭露使用一层薄的SiN中间层(interlayer)于n-GaN中的技术(Applied Physics Express 1,pp.101101-1-3(2003)),以提升磊晶质量与光取出率。但此一中间层厚度仅约为50nm至100nm,相较于近微米尺度的粗糙表面而言,其光散射效果并不显著。
Yasuo Ohba等人公开一种使用高质量氮化铝(AlN)为底材,以制造高效能紫外光LED的技术(Appl.Phys.Lett.,Vol.83,No.17,pp.3608-3610(2008))。但平滑的GaN/AlN接口无法有效提高LED芯片的光取出率。
另一先前技术揭露一种发光组件,其包含一具有漫射面的半导体发光迭层以及一透明粘结层。在此,漫射面是利用磊晶制程成长或以蚀刻方式形成,且透明粘结层的主要成分是由高分子材料所组成,用以将发光迭层与透光基板粘结在一起。在上述制程方式中,因为必须粘结两片基材,所以制造过程繁锁。此外,透明粘结层的主要成分为高分子材料,容易受热而劣化,所以发光组件的可靠度不易控制。
发明内容
有鉴于此,本发明提供一种发光二极管,俾能增加光取出率以及改善磊晶质量,而提升发光二极管的光学及电性效能。
本发明之另一目的是提供一种制造上述发光二极管的方法,其至少具有制程方式简单之优点。
本发明之另一态样是提供一种发光二极管,此发光二极管包括一基材、一氮化镓层、一粗化层、一磊晶层。其中该磊晶层包含一第一半导体层、一发光层以及一第二半导体层。前述粗化层配置于前述氮化镓层上,且前述粗化表面上具有不规则粗糙面。前述磊晶层配置于粗化层上,且前述磊晶层材料的折射率大于粗化层材料的折射率。
本发明之一态样是提供一种制造发光二极管的方法,此方法包括以下步骤。提供一基材;形成一缓冲层于此基材上;形成一氮化镓层于前述缓冲层上;低温形成一粗化层于前述氮化镓层上;形成一磊晶层于前述粗化层上,其中磊晶层材料之折射率大于粗化层材料之折射率。
下面参照附图,结合具体实施例对本发明作进一步的描述。
附图说明
图1A至图1C和图1E为本发明之发光二极管在不同制造步骤时的剖面示意图。
图1D是图1C的顶视图。
图2是为本发明之光路径示意图。
图3是为低温下成长之氮化铝层表面的显微图片。
主要元件符号说明
发光二极管 100
基材 102
缓冲层 104
氮化镓层 106
粗化层 108
第一半导体层 110
发光层 112
第二半导体层 114
磊晶层 116
具体实施方式
图1A至图1C和图1E是本发明之发光二极管在不同制造步骤时的剖面示意图。
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