[发明专利]采用埋入式线路基板进行无导电线电镀方法有效
申请号: | 201010113434.4 | 申请日: | 2010-02-24 |
公开(公告)号: | CN102163556A | 公开(公告)日: | 2011-08-24 |
发明(设计)人: | 郑振华 | 申请(专利权)人: | 苏州群策科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人: | 陈忠辉 |
地址: | 215021 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 采用 埋入 线路 进行 导电 电镀 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种电镀方法,尤其涉及一种采用埋入式线路基板进行无导电线电镀方法。
背景技术
众所周知,由于目前晶圆制作技术的快速进步,造成了I/O数量的增加。这样,势必会使原有的线路布局无法再用导电线路来做打线区(WireBond)的电镀,因此需要采用金属管来做导电。也就是说,需要使打线区晶圆的连接区电镀上所要的金属,而后再将金属层去除才能起到相关的功能效果。
在现有的方法中,往往是将线路上用无电解铜沉积在被电镀物的表面,很容易在其他不需要电镀的地方形成不必要的电镀金属层,不利于后续生产,同时增加了报废量。
发明内容
本发明的目的就是为了解决现有技术中存在的上述问题,提供一种采用埋入式线路基板进行无导电线电镀方法。
本发明的目的通过以下技术方案来实现:
采用埋入式线路基板进行无导电线电镀方法,其包括以下步骤:步骤①,在埋入式线路基板上将需要被电镀的区域打开。步骤②,用干膜将金属层无需电镀的部分覆盖。步骤③,去除被电镀区上的干膜,显出被镀区的金属层。步骤④,在被电镀区内的金属层上,镀上不同的金属。步骤⑤,去除干膜。步骤⑥,去除不需要的金属层。
上述的采用埋入式线路基板进行无导电线电镀方法,其中:步骤①所述的被电镀的区域打开方式是采用干膜方式,或是显影方式,或是蚀刻方式。
进一步的,上述的采用埋入式线路基板进行无导电线电镀方法,其中:所述的干膜为抗电镀膜或是抗电镀阻剂。
再进一步的,上述的采用埋入式线路基板进行无导电线电镀方法,其中:步骤④所述镀上金属包括有铜、镍、金、银。
本发明技术方案的优点主要体现在是需要导电线的区域,因为线路布局太密,而无法有足够的空间来拉导线因此无法满足所需要的电镀要求。同时,也不会在不必要的地方出现其他的电镀金属层,提高了产品的优良产率。更为重要的是,采用本发明后电镀工艺不会受到I/O数量的制约,对于高I/O数的打线区电镀能力有大幅的提升。因此,本发明为本领域的技术进步拓展了空间。
附图说明
本发明的目的、优点和特点,将通过下面优选实施例的非限制性说明进行图示和解释。这些实施例仅是应用本发明技术方案的典型范例,凡采取等同替换或者等效变换而形成的技术方案,均落在本发明要求保护的范围之内。这些附图当中,
图1是埋入式线路基板的构造示意图;
图2是干膜的示意图;
图3是去除被镀区域的金属层示意图;
图4是在电镀去电镀金属的示意图;
图5是去除干膜的示意图;
图6是埋入式线路基板电镀完毕后的示意图。
图中各附图标记的含义如下:
1埋入式线路基板 2金属层
3抗电镀膜 4电镀金属
具体实施方式
实施例1
如图1~6所示的采用埋入式线路基板进行无导电线电镀方法,其采用以下步骤:首先,如图1所示,在埋入式线路基板1上将被电镀区打开。随后,如图2所示:用干膜将金属层2无需电镀的部分覆盖。由于埋入式线路基板1的类型比较多,就本发明一较佳的实施方式来看,干膜采用抗电镀膜3,能够实现较佳的效果。
随后,去除被电镀区上的金属层2,为后续的电镀做好准备。然后,如图4所示:在被电镀区内电镀与金属层2不同的电镀金属4。具体来说,考虑到线路基板的导通效果,这些电镀金属可以采用铜、镍。
完成上述步骤后,结合图5来看:去除所覆盖的抗电镀膜3。最后去除金属层2即可得到制成品,即如图6所示。
实施例2
如图1~6所示的采用埋入式线路基板进行无导电线电镀方法,其与众不同之处在于包括以下步骤:
首先,如图1所示在埋入式线路基板1上将被电镀区打开。随后,如图2所示:用干膜将金属层2无需电镀的部分覆盖。结合实际应用来看,干膜亦可以采用抗电镀阻剂。随后,去除被电镀区上的金属层2,为后续的电镀做好准备。
然后,如图4所示:在被电镀区内电镀与金属层2不同的电镀金属4。具体来说这些电镀金属包括有金、银。
完成上述步骤后,结合图5来看:去除所覆盖的抗电镀膜3。最后去除金属层2即可得到制成品,即如图6所示。
通过上述的文字表述并结合附图可以看出,采用本发明后,不需要导电线的参与即可满足所需要的电镀要求,同时不会在不必要的地方出现电镀金属层,提高了产品的优良产率。更为重要的是,采用本发明后电镀工艺不会受到I/O数量的制约,对于高I/O数的打线区电镀能力有大幅的提升。
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