[发明专利]利用近似式的吸光度计算方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种使用测定求得的吸光度的信息来求出吸光度的近似式，根据该近似式计算特定波长的吸光度的方法，并且还涉及一种由此能够计算出在多个分光分析装置之间共通的特定波长的吸光度的技术。

背景技术

目前，通过分光分析，以非破坏的方式测定谷物等被测定物的成分。通过将根据被测定物的透过光或反射光得到的吸光度的信息套用到事先做出的检量线，来进行该测定。

所述检量线是使用吸光度或微分吸光度来做出的。例如，在专利文献1中记载了根据吸光度求出微分吸光度，使用该微分吸光度做出检量线。在此，关于使用微分吸光度，在非专利文献1(第18回非破壊計測シンポジウム講演要旨集)中，记载了提高检量线的测定精度的技术。根据上述非专利文献1，微分吸光度是用作为离散数据的吸光度光谱的波长差的差分进行了微分近似的吸光度。

然而，希望对每一台分光分析装置做出使用吸光度或微光吸光度做出的检量线。但是，由于生产成本的问题，需要在同一构造或同一产品的装置中搭载共通的检量线。因此，目前，以至少一台装置为基准设备，根据在该基准设备中测定到的吸光度的信息，通过PLS解析等生成检量线，将该检量线搭载在与所述基准设备为同一构造或为同一产品的不同的装置(子设备)中。

此时，由于在各个装置中装配的分光器的个体差异，在各个装置之间产生被称为机体差异的被测定物成分的测定误差。在所述分光器中，作为个体差异存在测定的波长的偏差。并且，认为所述各装置之间的机体差异是产生该测定波长的偏差的主要原因。即，如果把根据在基准设备中测定到的波长生成的检量线搭载到在测定的波长中与基准设备存在偏差的子设备中，则就会因所述偏差的原因而在基准设备和所述子设备之间产生机体差异。

【专利文献1】特開平5-60688号公報

【非专利文献1】「近赤外スペクトルの解析」、日本食品科学工学会第18回非破壊計測シンポジウム講演要旨集2002年、21頁

发明内容

在此，本发明的目的在于修正所述机体差异，其课题在于提供一种即使在由于所装配的分光器的个体差异，在各个分光分析装置中存在测定波长的偏差的情况下，也能够在各装置中求出同一波长的吸光度的方法。

为了解决上述课题，本发明讲述了以下的技术方法：向被测定物照射包含多个波长的光，接受来自所述被测定物的反射光或透过光，根据接受光得到的信息求出多个波长的吸光度，使用这些多个吸光度，将光的波长作为说明变量，将吸光度作为目的变量，求出2次以上的回归式，将特定波长的值代入到该回归式中，由此来计算出所述特定波长的吸光度。

此外，还讲述了以下的技术方法：对所述回归式进行微分，将特定波长的值代入微分后的回归式中，由此来计算所述特定波长的微分吸光度。

并且，还讲述了以下的技术方法：在同一构造或同一产品的分光分析装置中，将至少一个该分光分析装置作为基准设备，在该基准设备中通过本发明的计算方法求出多个特定波长的吸光度，使用该吸光度生成检量线，将该检量线搭载到与基准设备不同的所述分光分析装置中，在根据在该不同的所述分光分析装置中测定到的吸光度的信息，通过所述检量线计算被测定物的特定成分时，在该不同的所述分光分析装置中也通过本发明的吸光度计算方法求出所述特定波长的吸光度，并使用该吸光度。

除此之外，还讲述了以下的技术方法：在同一构造或同一产品的分光分析装置中，将至少一个该分光分析装置作为基准设备，在该基准设备中通过本发明记载的计算方法求出多个特定波长的微分吸光度，使用该微分吸光度生成检量线，将该检量线搭载到与基准设备不同的所述分光分析装置中，在根据在该不同的所述分光分析装置中测定到的微分吸光度的信息，通过所述检量线计算被测定物的特定成分时，在该不同的所述分光分析装置中也通过本发明的微分吸光度计算方法求出所述特定波长的微分吸光度，并使用该微分吸光度。

根据本发明，在同一构造或同一产品的各分光分析装置中，即使由于各自搭载的分光器的个体差异在测定的波长中存在偏差(差)时，通过本发明的吸光度的计算方法，也能够在各分光分析装置中求出同一测定波长的吸光度。

因此，即使把在一台基准设备中生成的检量线搭载在其他的各分光装置中，也能够消除由于测定的波长的偏差导致的机体差异，提高所谓的检量线的转移性。

因此，不需要在各个分光分析装置中分别作出检量线，可以大幅提高生产效率。

附图说明

图1概要地表示出了分光分析装置的结构。

图2表示出了分光器中的吸光度的近似式。