[发明专利]利用近似式的吸光度计算方法

权利要求书

1.一种分光分析装置的吸光度的计算方法，其特征在于，

向被测定物照射包含多个波长的光，接受来自所述被测定物的反射光或透过光，根据接受光得到的信息求出多个波长的吸光度，使用这些多个吸光度，将光的波长作为说明变量，将吸光度作为目的变量，求出2次以上的回归式，将特定波长的值代入到该回归式中，由此来计算所述特定波长的吸光度。

2.一种分光分析装置的吸光度的计算方法，其特征在于，

对权利要求1中记载的回归式进行微分，将特定波长的值代入微分后的回归式中，由此来计算所述特定波长的微分吸光度。

3.一种分光分析装置的机体差异修正方法，其特征在于，

在同一构造或同一产品的分光分析装置中，将该分光分析装置的至少一个作为基准设备，

在该基准设备中通过权利要求1记载的计算方法求出多个特定波长的吸光度，

使用该吸光度生成检量线，

将该检量线搭载到与基准设备不同的所述分光分析装置中，在根据在该不同的所述分光分析装置中测定得到的吸光度的信息，通过所述检量线计算被测定物的特定成分时，在该不同的所述分光分析装置中也通过权利要求1记载的吸光度计算方法求出所述特定波长的吸光度，并使用该吸光度。

4.一种分光分析装置的机体差异修正方法，其特征在于，

在同一构造或同一产品的分光分析装置中，将该分光分析装置的至少一个作为基准设备，

在该基准设备中通过权利要求2记载的计算方法求出多个特定波长的微分吸光度，

使用该微分吸光度生成检量线，

将该检量线搭载到与基准设备不同的所述分光分析装置中，在根据在该不同的所述分光分析装置中测得的微分吸光度的信息，通过所述检量线计算被测定物的特定成分时，在该不同的所述分光分析装置中也用权利要求2记载的微分吸光度计算方法求出所述特定波长的微分吸光度，并使用该微分吸光度。