[发明专利]单片测试装置和使用单片测试装置进行测试的方法

说明书

技术领域

本发明的各个方面涉及一种单片测试装置和使用该单片测试装置进行测试的方法。

背景技术

一般来讲，多个有机发光显示器的面板被形成和刻划在一个基板上(在下文中，称为单片基板)，然后，该基板被分成单独的面板。在从该单片基板切割和分离前，而且当处于单片基板的状态下，这些面板执行每个面板单元的发光过程、测试过程或老化过程。在这样的过程中，为了驱动每个面板，该单片基板的侧表面利用公共导线向该单片基板提供信号。在这种情况下，当多个面板中的一个面板上发生发光故障的时候，因为该发光故障会对与相应面板共享导线的那些面板的电流特性有影响，所以无法进行精确的测试。另外，当公共导线上发生短路的时候，因为被连接到公共导线上的面板的电流没有流向测试装置，所以针对这些面板的测试也就不能被适当地执行。

以上在背景部分中被公开的信息只是为了增加对本发明的背景的了解，因此可能会包含一些并不是必须形成本领域普通技术人员在本国已知的现有技术的信息。

发明内容

本发明的各个方面致力于提供一种单片测试装置和使用该单片测试装置进行测试的方法，其具有当测试单片时能够精确地测试每个面板的优点。

本发明的一个示范性实施例提供了一种单片测试装置，包括：形成在一单片基板上的多个面板；多个第一导线，所述多个第一导线被按第一方向排列在所述多个面板之间，以分别连接到所述多个面板上；多个第二导线，所述多个第二导线被按与所述第一方向不同的第二方向排列在所述多个面板之间，并被分别连接到所述多个面板上；多个电压施加单元，所述电压施加单元被分别连接到所述多个第一导线和所述多个第二导线上，以将第一电压和第二电压中被选定的那一个电压施加到相应导线上；以及测试单元，该测试单元控制所述多个电压施加单元，以测量所述多个面板中的每个面板的导通电流(on-current)和截止电流(off-current)。

根据本发明的一方面，所述第一电压可以是电源电压，所述第二电压可以是地电压。

根据本发明的一方面的所述多个电压施加单元中的每个电压施加单元可以包括：生成所述第一电压的电源；第一开关，该第一开关被连接到所述多个第一和第二导线中的相应导线和所述电源之间；第二开关，该第二开关被连接到所述多个第一和第二导线中的相应导线和所述第二电压的施加端子之间。

根据本发明的一方面，在将反向偏压施加到所述多个面板上的情况下，所述测试单元可以测量所述多个面板中的每个面板的截止电流。

根据本发明的一方面，在将偏压施加到所述多个面板上的情况下，所述测试单元可以测量所述多个面板中的每个面板的导通电流。

根据本发明的一方面，所述测试单元可以从多个面板中检测出一个截止电流等于或者大于一参考值的面板，并且当测量导通电流时，可以将所述第一和第二电压中的一个电压施加到与被检测出的面板相对应的第一导线和第二导线上。

根据本发明的一方面，所述测试单元可以是在从导通电流开始流动的时间点起经预定的稳定时段之后测量导通电流的。

根据本发明的一方面，所述测试单元可以包括多个电阻器，所述多个电阻器被分别连接到所述多个第二导线和所述多个电压施加单元之间；多个放大器，每个放大器将施加到所述多个电阻器中的每个电阻器上的电流放大并且输出；多个开关，每个开关被连接到所述多个放大器中的每个放大器的输出端子上；A/D转换器，该转换器被连接到所述多个开关上，以将所述多个放大器的输出转换成数字信号；电流读取单元，该电流读取单元读取所述A/D转换器的输出；以及开关控制器，该开关控制器生成开关控制信号，以控制所述多个开关和所述多个电压施加单元。

本发明的另一实施例提供一种测试单片测试装置的方法。该单片测试装置包括：形成在一个单片基板上的多个面板；多个第一导线，所述多个第一导线被按第一方向排列在所述多个面板之间，并被分别连接到所述多个面板上；多个第二导线，所述多个第二导线被按与所述第一方向不同的第二方向排列在所述多个面板之间，并被分别连接到所述多个面板上。该方法包括：在反向偏压被施加到所述多个面板上的情况下，测量所述多个面板中的每个面板的截止电流；并且将在偏压施加到所述多个面板上的情况下，测量所述多个面板中的每个面板的导通电流。测量导通电流可以包括：在所述多个面板之中检测出截止电流等于或者大于一预定的参考值的面板；并且将所述第一电压和所述第二电压之一施加到与所检测出的面板相对应的第一导线和第二导线上。测量导通电流可以是在从导通电流开始流动的那个时间点起经预定的稳定时段之后被执行的。