[发明专利]单片测试装置和使用单片测试装置进行测试的方法无效

专利信息
申请号: 201010004402.0 申请日: 2010-01-15
公开(公告)号: CN101876678A 公开(公告)日: 2010-11-03
发明(设计)人: 金成国 申请(专利权)人: 三星移动显示器株式会社
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/02;G01M11/02
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 罗正云;王琦
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 单片 测试 装置 使用 进行 方法
【权利要求书】:

1.一种单片测试装置,用于测试单片基板,该单片基板包括:多个面板;多个第一导线,所述多个第一导线被按第一方向排列在所述多个面板之间以连接到所述多个面板中的相应面板上;以及多个第二导线,所述多个第二导线被按不同于所述第一方向的第二方向排列在所述多个面板之间,并且被连接到所述多个面板中的相应面板上,该单片测试装置包括:

多个电压施加单元,所述多个电压施加单元被有选择地分别连接到所述多个第一导线和所述多个第二导线上,以通过相应的第一导线和第二导线将第一电压和第二电压中被选定的那一个电压施加到所述多个面板上;和

测试单元,该测试单元控制所述多个电压施加单元,以有选择地测量所述多个面板中的每个面板的导通电流和截止电流。

2.根据权利要求1所述的单片测试装置,其中所述第一电压是电源电压,所述第二电压是地电压。

3.根据权利要求1所述的单片测试装置,其中所述多个电压施加单元中的每个电压施加单元包括:

生成所述第一电压的电源;

第一开关,该第一开关被有选择地连接到所述多个第一导线和所述多个第二导线中的相应导线与所述电源之间;

第二开关,该第二开关被有选择地连接到所述相应导线与所述第二电压的施加端子之间。

4.根据权利要求1所述的单片测试装置,其中在将反向偏压施加到所述多个面板上的情况下,所述测试单元测量所述多个面板中的每个面板的截止电流。

5.根据权利要求1所述的单片测试装置,其中在将偏压施加到所述多个面板上的情况下,所述测试单元测量所述多个面板中的每个面板的导通电流。

6.根据权利要求5所述的单片测试装置,其中所述测试单元在所述多个面板中检测出所述截止电流等于或者大于一参考值的面板,并且当测量所述导通电流时,将所述第一电压和所述第二电压之一施加到与被检测出的面板相对应的第一导线和第二导线上,以阻止电流流向被检测出的面板。

7.根据权利要求1所述的单片测试装置,其中所述测试单元是在从所述导通电流开始流动的时间点起经预定的稳定时段之后测量所述导通电流的。

8.根据权利要求1所述的单片测试装置,其中所述测试单元包括:

多个电阻器,所述多个电阻器被分别连接到所述多个第二导线和所述多个电压施加单元之间;

多个放大器,所述多个放大器将施加到所述多个电阻器上的相应电流放大并且输出;

多个开关,所述多个开关被连接到所述多个放大器中各放大器的相应输出端子上;

模拟/数字转换器,该模拟/数字转换器被连接到所述多个开关上,以将所述多个放大器的输出转换成数字信号;

电流读取单元,该电流读取单元读取所述模拟/数字转换器的输出;和

开关控制器,该开关控制器生成开关控制信号,该开关控制信号根据所读取的输出来控制所述多个开关和所述多个电压施加单元。

9.一种测试单片测试装置的方法,该单片测试装置包括:具有多个面板的单片基板;多个第一导线,所述多个第一导线在所述单片基板上被按第一方向排列在所述多个面板之间,并且被连接到所述多个面板中的相应面板上;多个第二导线,所述多个第二导线在所述单片基板上被按不同于所述第一方向的第二方向排列在所述多个面板之间,并且被连接到所述多个面板中的相应面板上,该方法包括:

在将反向偏压经由所述多个第一和第二导线施加到所述多个面板上的情况下,测量所述多个面板中的每个面板的截止电流;并且

在将偏压经由所述多个第一和第二导线施加到所述多个面板上的情况下,测量所述多个面板中被选定的那些面板的导通电流,其中选择所述被选定的那些面板,以根据测量所述多个面板中的每个面板的截止电流来排除有故障的面板。

10.根据权利要求9所述的测试单片测试装置的方法,其中所述测量导通电流包括:在所述多个面板中检测出所述截止电流等于或者大于预定的参考值的面板,并且将第一电压和第二电压中的一个电压施加到与被检测出的面板相对应的第一导线和第二导线上,以阻止电流流向被检测出的面板。

11.根据权利要求9所述的测试单片测试装置的方法,其中所述测量导通电流是在从所述导通电流开始流动的那个时间点起经预定的稳定时段之后被执行的。

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