[发明专利]半导体陶瓷以及正特性热敏电阻有效
申请号: | 200980149760.6 | 申请日: | 2009-12-11 |
公开(公告)号: | CN102245536A | 公开(公告)日: | 2011-11-16 |
发明(设计)人: | 后藤正人;胜勇人;阿部直晃;岸本敦司;中山晃庆 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | C04B35/46 | 分类号: | C04B35/46;H01C7/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张宝荣 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 陶瓷 以及 特性 热敏电阻 | ||
1.一种半导体陶瓷,其特征在于,其是实质上不含有Pb的非铅类半导体陶瓷,
其以具有由通式AmBO3表示的钙钛矿型结构的BamTiO3类组合物作为主成分,
构成A位的Ba中的一部分至少被碱金属元素、Bi及稀土元素取代,
并且A位与B位的摩尔比m为0.990≤m≤0.999。
2.根据权利要求1所述的半导体陶瓷,其特征在于,所述Ba的一部分被Ca取代,并且将所述构成A位的元素的总摩尔数设为1摩尔的情况下,所述Ca的含量以摩尔比换算计为0.042~0.20。
3.根据权利要求2所述的半导体陶瓷,其特征在于,所述Ca的含量以摩尔比换算计为0.125~0.175。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的半导体陶瓷,其特征在于,所述摩尔比m为0.990≤m≤0.995。
5.根据权利要求3所述的半导体陶瓷,其特征在于,A位与B位的摩尔比m为0.996≤m≤0.999。
6.一种正特性热敏电阻,在部件基体的表面上形成有一对外部电极,其特征在于,
所述部件基体是用权利要求1~5中任一项所述的半导体陶瓷形成的。
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