[发明专利]半导体装置无效

专利信息
申请号: 200980133403.0 申请日: 2009-08-31
公开(公告)号: CN102138227A 公开(公告)日: 2011-07-27
发明(设计)人: 名古肇;橘浩一;斋藤真司;原田佳幸;布上真也 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 陈海红;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及半导体装置。

背景技术

近年来,使用了InGaN系的半导体的发光二极管(LED)的研究开发正在推进(参照专利文献1)。但是,在使用了InGaN系的半导体的发光二极管中,存在难以获得发光效率高的高亮度的绿色的问题。

专利文献1:特开2002-43618号公报。

发明内容

本发明的目的提供可以获得发光效率高的发光二极管的半导体装置。

本发明的一方面的半导体装置,具备:基底层;以及发光层,其形成于前述基底层上,并交替地层叠有由InAlGaN形成的势垒层和由InGaN形成的量子阱层。

根据本发明,能够提供可以获得发光效率高的发光二极管的半导体装置。

附图说明

图1是示意地表示本发明的第1实施方式的半导体装置的基本的结构的剖面图。

图2是关于本发明的第1实施方式、示意地表示发光层的详细的结构的剖面图。

图3是表示晶格常数与带隙的关系的图。

图4是表示本发明的第1实施方式的半导体装置的测定结果的图。

图5是表示本发明的第1实施方式的第1比较例的半导体装置的测定结果的图。

图6是表示本发明的第1实施方式的第2比较例的半导体装置的测定结果的图。

图7是示意地表示本发明的第2实施方式的半导体装置的结构的剖面图。

具体实施方式

以下,参照附图对本发明的实施方式进行说明。

(实施方式1)

图1是示意地表示本发明的第1实施方式的半导体装置(发光二极管)的基本的结构的剖面图。图1所示的半导体装置包括基板10、形成于基板10上的基底层20、形成于基底层20上的发光层30。

基板10使用蓝宝石基板,蓝宝石基板10的上面(元件形成面)成为蓝宝石晶体的(0001)面即C面。在蓝宝石基板10的上面(C面)上,作为基底层20而形成有GaN层。在GaN层20上,形成有具有多重量子阱结构的发光层30。

图2是示意地表示图1所示的发光层30的详细的结构的剖面图。另外,在图2中,为了方便,仅示出了发光层30的1周期,但是实际上图2所示的发光层30层叠有2周期或2周期以上。如图2所示,发光层30包括势垒层(barrier层)31、中间层32、量子阱层33、中间层34以及势垒层(barrier层)35的层叠结构。

势垒层31由InAlGaN(一般地,表示为InxAlyGa1-x-yN(0<x<1,0<y<1)))形成,厚度为12.5nm。具体地,势垒层31由In0.02Al0.33Ga0.65N形成。

中间层32由InGaN(一般地,表示为InxGa1-xN(0<x<1))形成,厚度为0.5nm。具体地,中间层32由In0.02Ga0.98N形成。

量子阱层33由InGaN(一般地,表示为InxGa1-xN(0<x<1))形成,厚度为2.5nm。具体地,量子阱层33由In0.15Ga0.85N形成。

中间层34由InGaN(一般地,表示为InxGa1-xN(0<x<1))形成,厚度为0.5nm。具体地,中间层34由In0.02Ga0.98N形成。

势垒层35由InAlGaN(一般地,表示为InxAlyGa1-x-yN(0<x<1,0<y<1))形成,厚度为11.5nm。具体地,势垒层35由In0.02Al0.33Ga0.65N形成。

在本实施方式中,形成有5周期的图2的层叠结构。并且,在最上层,作为盖层,形成有厚度15nm的InAlGaN(一般地,表示为InxAlyGa1-x-yN(0<x<1,0<y<1))。具体地,盖层由In0.02Al0.33Ga0.65N形成。

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