[发明专利]半导体装置无效
申请号: | 200980133403.0 | 申请日: | 2009-08-31 |
公开(公告)号: | CN102138227A | 公开(公告)日: | 2011-07-27 |
发明(设计)人: | 名古肇;橘浩一;斋藤真司;原田佳幸;布上真也 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 陈海红;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
技术领域
本发明涉及半导体装置。
背景技术
近年来,使用了InGaN系的半导体的发光二极管(LED)的研究开发正在推进(参照专利文献1)。但是,在使用了InGaN系的半导体的发光二极管中,存在难以获得发光效率高的高亮度的绿色的问题。
专利文献1:特开2002-43618号公报。
发明内容
本发明的目的提供可以获得发光效率高的发光二极管的半导体装置。
本发明的一方面的半导体装置,具备:基底层;以及发光层,其形成于前述基底层上,并交替地层叠有由InAlGaN形成的势垒层和由InGaN形成的量子阱层。
根据本发明,能够提供可以获得发光效率高的发光二极管的半导体装置。
附图说明
图1是示意地表示本发明的第1实施方式的半导体装置的基本的结构的剖面图。
图2是关于本发明的第1实施方式、示意地表示发光层的详细的结构的剖面图。
图3是表示晶格常数与带隙的关系的图。
图4是表示本发明的第1实施方式的半导体装置的测定结果的图。
图5是表示本发明的第1实施方式的第1比较例的半导体装置的测定结果的图。
图6是表示本发明的第1实施方式的第2比较例的半导体装置的测定结果的图。
图7是示意地表示本发明的第2实施方式的半导体装置的结构的剖面图。
具体实施方式
以下,参照附图对本发明的实施方式进行说明。
(实施方式1)
图1是示意地表示本发明的第1实施方式的半导体装置(发光二极管)的基本的结构的剖面图。图1所示的半导体装置包括基板10、形成于基板10上的基底层20、形成于基底层20上的发光层30。
基板10使用蓝宝石基板,蓝宝石基板10的上面(元件形成面)成为蓝宝石晶体的(0001)面即C面。在蓝宝石基板10的上面(C面)上,作为基底层20而形成有GaN层。在GaN层20上,形成有具有多重量子阱结构的发光层30。
图2是示意地表示图1所示的发光层30的详细的结构的剖面图。另外,在图2中,为了方便,仅示出了发光层30的1周期,但是实际上图2所示的发光层30层叠有2周期或2周期以上。如图2所示,发光层30包括势垒层(barrier层)31、中间层32、量子阱层33、中间层34以及势垒层(barrier层)35的层叠结构。
势垒层31由InAlGaN(一般地,表示为InxAlyGa1-x-yN(0<x<1,0<y<1)))形成,厚度为12.5nm。具体地,势垒层31由In0.02Al0.33Ga0.65N形成。
中间层32由InGaN(一般地,表示为InxGa1-xN(0<x<1))形成,厚度为0.5nm。具体地,中间层32由In0.02Ga0.98N形成。
量子阱层33由InGaN(一般地,表示为InxGa1-xN(0<x<1))形成,厚度为2.5nm。具体地,量子阱层33由In0.15Ga0.85N形成。
中间层34由InGaN(一般地,表示为InxGa1-xN(0<x<1))形成,厚度为0.5nm。具体地,中间层34由In0.02Ga0.98N形成。
势垒层35由InAlGaN(一般地,表示为InxAlyGa1-x-yN(0<x<1,0<y<1))形成,厚度为11.5nm。具体地,势垒层35由In0.02Al0.33Ga0.65N形成。
在本实施方式中,形成有5周期的图2的层叠结构。并且,在最上层,作为盖层,形成有厚度15nm的InAlGaN(一般地,表示为InxAlyGa1-x-yN(0<x<1,0<y<1))。具体地,盖层由In0.02Al0.33Ga0.65N形成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝,未经株式会社东芝许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200980133403.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。