[发明专利]静电卡盘的使用极限判别方法无效
申请号: | 200980132402.4 | 申请日: | 2009-08-17 |
公开(公告)号: | CN102124554A | 公开(公告)日: | 2011-07-13 |
发明(设计)人: | 井上永博 | 申请(专利权)人: | 爱发科股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H02N13/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王轶;李伟 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 静电 卡盘 使用 极限 判别 方法 | ||
1.一种静电卡盘的使用极限判别方法,该静电卡盘具有第1电极、第2电极以及由包覆这些电极的电介质构成的包覆层,通过对第1和第2两电极间施加电压,来对载置于包覆层的表面的处理基板进行吸附,其特征在于,
在处理基板的吸附时对在第1和第2两电极间流动的电流值进行检测,并当检测出的电流值在规定的阈值以上时,判别静电卡盘达到使用极限,
所述阈值按照与静电卡盘接触的基板背面的电阻值呈不同的各种处理基板的每一种而被设定为不同的值。
2.根据权利要求1所述的静电卡盘的使用极限判别方法,其特征在于,
所述电流值是在处理基板的吸附后,且对处理基板开始进行处理之前所检测出的电流值。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造