[发明专利]用于测量通过容器的导电液体的体积流量的方法有效
申请号: | 200980111050.4 | 申请日: | 2009-03-27 |
公开(公告)号: | CN101981415A | 公开(公告)日: | 2011-02-23 |
发明(设计)人: | C·恩德森;U·朗;S·侯特;S·布克宾德;T·克勒 | 申请(专利权)人: | 布丽塔有限责任公司 |
主分类号: | G01F1/00 | 分类号: | G01F1/00;G01F23/24 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇 |
地址: | 德国陶努*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 通过 容器 导电 液体 体积 流量 方法 | ||
技术领域
本发明涉及根据权利要求1的测量通过容器的导电液体的体积流量的方法。本发明还涉及相应的测量装置。
背景技术
所有需要确定液体体积和体积变化量的任何情况中,都要测量填充高度。测量填充高度通常通过电极来实施,该电极至少部分浸入液体中。通过合适的测量装置来测量和液体的填充高度或者体积成比例的液体电导率或者电阻。
为了确定滤筒的用尽状态,需要进行这样的测量,其中滤筒用在重力驱动的过滤装置中。
WO 02/27280A披露了使用三个电极的装置,其中一个电极用作基准电极。用于水平高度测量的电极以这样的方式配置:当超过或低于水平高度的特定限制时,测量值急剧变化。可以无需高测量精确度要求而可靠地识别出测量值的这些跃变。
EP 1484097B1中也披露了类似的装置,该装置包括至少三个电极、计数装置和定时器。把这些部件测量的信号馈送到微处理器的输入,微处理器基于驻留的程序根据下面的因素处理有关滤筒的使用期限的重要数据:从首次激活起始所经历的时间量、所处理的水量以及污染物的离子浓度,处理的水量以电极间的电路认为重要的闭合状态(closure)来确定,污染物的离子浓度根据正在处理的水的电导率来确定。
考虑到容器的部分填充的情况,多个电极处于容器内补偿腔室(compensation chamber)中逐渐增加的水平高度。
该装置成本昂贵并且甚至没有考虑容器的设计和形状。体积的精确测量需要在考虑容器形状的情况下在中间过程中测量填充高度。通常,容器具有任意的设计,使得填充高度和液体体积之间的关联性不遵从简单的数学公式。
大部分测量装置忽视容器形状,使得滤筒的使用期限的确定不能如所需一样精确。
US 4724705A涉及燃料测量装置并且更具体涉及用于确定燃料箱中燃料的量的装置。燃料水平高度指示器包括中空外罩、编码触片、包括触片基座的短路触片、浮力构件和连接桥。编码触片由电介质、陶瓷材料制成并且沿着中空外罩的内长延伸。每单元长度上电阻已知的电传导线束围绕编码触片,来限定表示燃料箱的内壁的轮廓线的“电阻图案”。制备燃料水平高度指示器是件很费力的事,特别是制备编码触片。
DE 102005035045A1披露一种测量装置,包括含有至少一个电极的测量元件,电极的面积从一个到另一个以指数方式增加。该发明的益处在于如果容器中的液体的测量值和体积之间存在指数相关性,就不需要知道容器中液体的水平高度的电导率和绝对值。
发明内容
本发明的目的是提供一种允许以更精确和简单的方式测量通过容器的体积流量的方法和测量装置。
该目的通过一种方法解决,该方法的特征在于:以一定时间间隔测量测量值x,并且通过比较测量值x和至少一个基准表的相应的校准测量值XR来确定相应的填充体积V0,该至少一个基准表包括至少一个校准测量值XR和属于它们的填充体积V0,并且根据时间段内的多个填充体积V0来确定体积流量VD,其中至少一个基准表通过使用多个液体样本的校准测量来构建,该多个液体样本具有不同的p值和在容器中不同的填充高度。
测量填充体积V0的时间段可以是预定的时间段。在测量方法应用到例如过滤装置的情况中,起始时间可以是例如新的滤筒置于装置中的时间。在此情况中,时间段例如受到筒的使用期限的限制,或者该时间段持续到该筒被替换。
本发明的益处在于可以使用简单的电极,并且可以通过构建至少一个基准表来将参数P和容器形状考虑在内,该参数P和容器形状二者都影响填充高度h进而影响填充体积V0的测量结果。
针对容器的每个形状构建包含在此基准表中的校准测量值XR,并且把校准测量值XR存放在电导率测量装置的存储器中。当一类测量装置用在不同容器中时,测量装置的机械特征特别是电极的形状和技术细节不需要适配容器的形状。仅需要提供包括反映形状和流经容器的液体的不同类型的特定值的相应的表。如果容器仅是大规模生产的,需要构建用于每一类容器的至少一个表并且在不需要机械调整的情况下使用同一个测量装置。
因为在进行校准测量时不仅考虑了参数P还考虑了容器的形状,所以可以以十分精确的方式来测量容器中的液体体积的值。
该至少一个基准表可以存放在测量装置的存储器中。
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