[发明专利]用于测量通过容器的导电液体的体积流量的方法

权利要求书

1.一种测量导电液体的体积流量V_D的方法，该导电液体的电导率至少通过至少一个参数P来共同确定，

其中，所述液体流经具有预定形状的容器，并且其中容器中的相应填充体积V₀通过至少一个测量值X来确定，该至少一个测量值X通过包括至少两个测量电极的电导率测量装置来测量，

其中容器连续填充并且随后通过其出口清空，通过该出口使得填充高度h不断改变，其特征在于：

以一定时间间隔测量该测量值x，并且通过比较相应的测量值x和至少一个基准表的校准测量值X_R来确定相应的填充体积V₀，该至少一个基准表包括至少校准测量值X_R和属于该校准测量值X_R的填充体积V₀，并且

根据在一时间段内的填充体积V₀来确定体积流量V_D，

其中至少一个基准表通过使用多个液体样本的校准测量来构建，多个液体样本具有不同的p值和容器中不同的填充高度h。

2.根据权利要求1的方法，其特征在于，至少一个基准表存放在测量装置的存储器中。

3.根据权利要求1或者2的方法，其特征在于，第一基准测量值X₁在所述时间段内至少测量一次。

4.根据权利要求3的方法，其特征在于，第一基准测量值X₁仅在从空的容器开始的填充过程开始处测量一次。

5.根据权利要求3或者4的方法，其特征在于，所述第一基准测量值X₁通过用于测量值X的测量的同样两个测量电极来测量。

6.根据权利要求3的方法，其特征在于，每当测量测量值X时，测量该第一基准测量值X₁。

7.根据权利要求6的方法，其特征在于，该第一基准测量值X₁通过基准电极和用于测量值X的测量的一个测量电极来测量。

8.根据权利要求3-7的其中一个的方法，其特征在于，构建第一基准表，该第一基准表包括校准第一基准测量值X_1R和属于X_1R的参数P的值，

构建第二基准表，该第二基准表至少包括校准测量值X_R、参数P的值和属于它们的填充高度h，并且

构建第三基准表，该第三基准表考虑容器的形状并且包括填充高度h和属于填充高度h的体积V₀。

9.根据权利要求8的方法，其特征在于，至少通过和第一基准表中的值比较根据第一基准测量值X₁来确定参数p的值，

至少通过和第二基准表的值相比较根据测量值X和参数p的值来确定填充高度h，并且

相应的填充体积V₀通过和第三基准表的值相比较根据填充高度h来确定。

10.根据权利要求3-9的任意一项的方法，其特征在于，所述测量值x参考第一基准测量值X₁，用来确定第一校准值I₁。

11.根据权利要求10的方法，其特征在于，第一校准值I₁存放在第一和/或第二基准表中。

12.根据权利要求1-11的任意一项的方法，其特征在于，在所述时间段内第二基准测量值X₂至少测量一次。

13.根据权利要求12的方法，其特征在于，第二基准测量值X₂仅在从空的容器开始的填充过程开始处测量一次。

14.根据权利要求12或者13的方法，其特征在于，每当测量值X被测量时测量所述第二基准测量值X₂。

15.根据权利要求12-14的任意一项的方法，其特征在于，所述第二基准测量值X₂通过导电测量装置的基准电路来测量。

16.根据权利要求11-15的任意一项的方法，其特征在于，将第一基准测量值X₁参考第二基准测量值X₂，用来确定第二校准值I₂。