[发明专利]电感负载的驱动电路

说明书

技术领域

本发明涉及螺线管或电动机、线圈等电感负载的驱动电路，特别是涉及在电感负载周围的接地的检测。

背景技术

专利文献1：日本特开平11-81105公开了横机等针织机上的针织物下拉装置。在横机上将编织后的针织物向针床的下侧下拉。为了应对针床的横移、针床上的针织物的移动等，日本特开平11-81105公开了能够在针织物内的每个位置独立解除下拉的下拉装置。在下拉的开/关中使用螺线管，例如并联控制数十个的螺线管，对应于针织物内的位置进行或解除下拉。

专利文献2：日本实公昭62-6663公开了电感负载的驱动电路。用4个开关构成H字状的电桥，在电桥的H字的横方向的边上配置线圈。而且使电桥的对角的2个开关同时导通，对线圈施加电流。于是，在从电桥的左上向右下流过电流的情况、和从右上向左下流过电流的情况下，能够在双方向对线圈施加电流。该电路适于在将螺线管置位的情况下和将螺线管复位的情况下都对其施加电流的情况，也适于通过无刷电动机的驱动在线圈上流过双方向的电流的情况。

在驱动螺线管等电感负载时，需要检测接地(向大地的短路)，专利文献3：日本特开2005-210871的图5表示了代表性的检测电路。该电路中，在直流电源和组入了线圈的电桥之间配置检测电阻，通过接地流过过电流时，检测出施加于检测电阻的电压增加。这种电路例子如图4所示。12是线圈，配置在第一FET14和第二FET16的中点、及第三FET15和第四FET17的中点之间。S1～S4是向FET14～17的门信号。R8～R18是电阻，其中R10是检测电阻，R8、R9是用于形成比较器22的基准电位的电阻。Vcc是12V、30V等的线圈12的电源，Vcc2是5V等的电源。40、41是缓冲器，42是差动放大器。此处若产生接地，则由于过电流第一及第二FET14、15被破坏，因此监视检测电阻R10的电压。

图4的电路中，由于电阻R11～R14的偏差，检测精度下降。再者，需要缓冲器40、41和差动放大器42组成的差动放大电路，并联驱动数十个线圈12，因此产生不能忽视的成本。因此，本发明人研究了通过小规模的电路检测电感负载的接地的技术，创立了本发明。

专利文献1：日本特开平11-81105

专利文献2：日本实公昭62-6663

专利文献3：日本特开2005-210871

发明内容

本发明的课题是，通过简单且低成本的电路，检测出对地短路并且防止驱动用的晶体管的破坏。

在本发明的电感负载的驱动电路中，在串联连接的第一及第二晶体管的中间点与串联连接的第三及第四晶体管的中间点之间配置电感负载，

在所述第一及第三晶体管的源极或发射极与直流电源之间配置保护电阻，在所述第二及第四晶体管的低电位侧与大地之间配置检测电阻，并且，设有：

驱动单元，向所述第一及第三晶体管的门极或基极分别输入一定电位的驱动信号，从而驱动所述第一及第三晶体管；及

检测单元，向所述电感负载通电时，在施加于所述检测电阻的电压持续规定时间以上处于对地短路检测用的阈值以下时，使来自所述驱动单元的驱动信号断开。

此外，第一及第三晶体管的门极及基极的驱动信号不需要为相同电位。第二及第四晶体管上的源极及发射极的位置既可以在检测电阻侧也可以在电感负载侧。

优选的是，通过分别使所述第一～第四晶体管导通/截止，来对所述电感负载进行开关控制，并且，

所述检测单元包括将施加于所述检测电阻的电压与所述阈值进行比较的比较器、和检测出比较器的信号在所述规定时间以上的期间未发生变化而使所述驱动信号断开的单元。

优选的是，以在所述第一晶体管导通的期间使所述第四晶体管导通/截止、在所述第三晶体管导通的期间使所述第二晶体管导通/截止的方式，使所述第一及第三晶体管导通的占空比分别比第二及第四晶体管导通的占空比大。另外，不需要使第一晶体管导通的占空比与第三晶体管导通的占空比相等。此外同样地，也不需要使第二晶体管导通的占空比和第四晶体管导通的占空比相等。

发明效果