[发明专利]具有温度探测的发光设备封装无效

专利信息
申请号: 200980000010.2 申请日: 2009-03-02
公开(公告)号: CN101548131A 公开(公告)日: 2009-09-30
发明(设计)人: 温珊媚;张智恒;卢明 申请(专利权)人: 香港应用科技研究院有限公司
主分类号: F21V19/00 分类号: F21V19/00;F21V23/00;H05B37/02;H01L33/00;F21Y101/02
代理公司: 深圳创友专利商标代理有限公司 代理人: 江耀纯
地址: 中国香港新界沙田香港科*** 国省代码: 中国香港;81
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 具有 温度 探测 发光 设备 封装
【说明书】:

技术领域

[0001]本发明涉及一种发光设备封装,特别涉及一种具有內设的 (design-in)热探测单元的发光设备封装,该内设的热探测单元可以用作 温度探测和温度控制。

发明背景

[0002]目前,发光二极管(此后被称为“LED”)是半导体领域里最 创新和发展最快的技术之一。尽管在过去十几年,LED被用于指示和信 号领域,但LED的技术开发和改进使其能够广泛用于照明应用。

[0003]在照明应用里使用LED极具吸引力,理由包括:其能够每瓦 特产生更多光能、有更长的使用寿命、更小的尺寸、更大的耐用性、环保、 以及有色彩、光线控制和暗淡化方面的灵活性。

[0004]LED发光体的主要应用是LCD背光、白光照明、色调照明和 汽车照明。众所周知,LED发光体的光学特征,特别是红色LED,会随环 境温度的变化有较大变化。例如,在寒冷气候下使用的LED发光体的发光 强度、CRI(显色性指数)、CCT(相关色温)和色度值将不同于在温暖气 候下使用的相同LED发光体的发光强度、CRI(显色性指数)、CCT(相 关色温)和色度值。因此,在照明应用里LED发光体的一个主要难题是提 供一个一致性的期望的光性能,其不随环境温度变化而变化。

[0005]早期已经作出许多尝试来探测LED的温度,并通过一个外部 电源进行调整以保持LED模块的性能一致性。但是,前期努力具有以下缺 点:LED模块的尺寸不能太小;由于温度探测单元和LED之间的距离太 大,反应时间很慢且不准确;LED发出的光被阻碍;需要对每个LED模 块进行校准;并且存在焊接性能层次(soldering perform hierarchy)问题。 以上有关功能、性能和成本方面的限制导致无法提供一个有效的LED模 块。所以,需要一种发光设备封装,其能够解决LED模块的诸多缺点。

发明概述

[0006]依照本发明的一个实施例,披露了一种发光设备封装。发光设 备封装包括一个功能基板;至少一个发光元件,其键合到功能基板上;和 至少一个内设的热探测单元,其建造在功能基板上,其中内设的热探测单 元靠近发光元件,并且内设的热探测单元被设置以探测温度并传递一个温 度信号。

[0007]依照本发明的另一个实施例,披露了一种发光系统。发光系统 包括一个功能基板;至少一个发光元件,其键合到功能基板上;和至少一 个内设的热探测单元,其建造在功能基板上,其中内设的热探测单元靠近 发光元件,且内设的热探测单元被设置以探测温度并传递一个温度信号; 一个电源,其被连接到至少一个发光元件,电源被设置以提供电流到至少 一个发光元件;和一个微控制器单元,其被连接到电源和内设的热探测单 元,微控制器单元被设置以控制从电源提供到至少一个发光元件的电流, 微控制器单元元还被设置以接收来自内设热探测单元的温度信号。

[0008]依照本发明的另一个实施例,披露了一种制作具有内设热探测 单元的发光设备封装的方法。此方法包括提供一个半导体基板;在半导体 基板上建造一个内设的热探测单元;在半导体基板上产生一个钝化层;利 用一个或多个掩膜将半导体基板图案化,并利用一个或多个掩膜以及一个 或多个制作步骤蚀刻钝化层和基板,从而在半导体基板上形成一个布局设 计;以及在半导体基板上形成一个或多个金属走线和平台。

[0009]从以下的详细描述,本领域技术人员将更容易理解本发明的其 它实施例,其中本发明实施例是通过附图进行描述。将会认识到,本发明 能够适用于其它和不同的实施例,且能够在不同方面对其细节进行修改, 而没有脱离本发明的精神和范围。

附图说明

[0010]图1是本发明一个实施例的一种发光设备封装的截面图;

[0011]图2是描述本发明一个实施例的一种发光系统运作的模块图; 其包括发光设备封装;

[0012]图3是本发明第二实施例的一种发光设备封装的截面图;

[0013]图4是本发明一个实施例的局部简化了的半导体晶圆布局的 俯视图;並且描述热探测单元位置。

[0014]图5A到5K描述本发明一个实施例的一个具有内设热探测单 元的半导体基功能基板的示范制作过程;此内设热探测单元是建造在半导 体基功能基板上。

[0015]图6A是本发明第三实施例的一种发光设备封装的截面图;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于香港应用科技研究院有限公司,未经香港应用科技研究院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200980000010.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top