[实用新型]大尺寸外径千分尺示值误差检定夹具

说明书

技术领域

本实用新型涉及夹具，尤其涉及量具夹具。

背景技术

由于千分尺专用量块规格范围为：(5.12-100)mm，故(100～2000)mm的外径千分尺测微头示值误差的检定，需要由与被检外径千分尺测量范围下限尺寸相等的量块，与千分尺测微头测量范围(0-25)mm对应的专用量块：5.12mm 10.24mm 15.36mm 21.50mm 25.00mm的小量块研合，来完成千分尺测微头示值误差的检定。由于量块研合对量块测量面的清洁有相当的要求，且由于量块研合后重量加重，尺寸加长，在具体进行量块研合及具体检定操作时，极易造成量块工作面的划伤，从而导致量块预期使用寿命的减少及间接降低千分尺测微头示值误差检定结果的可靠性。

有一种千分尺夹具，正如西南铝业(集团)有限责任公司在2007年5月24日申请，2008年3月12日公开，申请号为200720147454.7，公开号为CN201034527的专利，名称为千分尺夹具，包括一个底座，在底座上安装固定有一个夹具头，夹具头上设置有一能够插入千分尺的夹口，夹具头上还设置有可将插入夹口内的千分尺压紧的压紧装置。这种夹具结构简单，能够降低千分尺测量误差。这种千分尺夹具虽然增加了夹紧装置，但是其结构设计并不能保证夹紧装置的稳定性，造成了测量时数值的可靠性降低。

发明内容

本实用新型针对现有技术中千分尺夹具不能够对各种形状的器件进行夹持，尤其是尺寸较大的器件，而且在加持过程中容易影响测量精度的缺点，提出了一种能对各种形状器件进行加持，而且对精度影响较小的千分尺夹具。

为了解决上述技术问题，本实用新型通过下述技术方案得以解决：

大尺寸外径千分尺示值误差检定夹具，包括尺架和安装在尺架上端套筒内的的千分尺测微头，尺架的上端套筒外还装有基体，基体的另外一端装有可调测砧，可调测砧的中心线与千分尺测微头的测微头螺杆的中心线重合。

尺架为一个带有套筒的基座，尺架的套筒正好能与千分尺测微头相配合，千分尺测微头放置于套筒内，在套筒外还设有基体，基体与可调测砧相连，并且可调测站与千分尺测微头的测微头螺杆能够配合置于同一水平线上。

作为优选，基体的一端为与尺架上顶端相配合的套筒，另外一端为竖直放置的立块，可调测砧穿过立块。

基体通过五颗定位固紧螺钉固定在尺架上。

可调测砧通过可调测砧固紧螺钉固定在基体上。

基体为一平板放置，平板一端为环套，能够套在尺架的套筒之外，环套通过五颗定位固紧螺钉安装在套筒上，另外一端为与平板垂直放置的立块，立块上开有圆口，可调测砧通过圆口放置，在立块商定面还有能放置可调测砧固紧螺钉的螺钉口，用于固紧可调测砧。

作为优选，可调测砧的一端为球端面的可调测砧钢球测量头，专用量块被夹在可调测砧钢球测量头与测微头螺杆之间。

可调测砧与测微头螺杆相对应的一端为球端面圆头的可调测砧钢球测量头，使用时专用量块被放置于可调测砧钢球测量头与测微头螺杆之间。

按照本实用新型的技术方案，对器件进行加持测量过程中，该夹具加持稳定，能满足大尺寸形状各异的器件，而且误差较小。

附图说明

图1为本实用新型实施例夹紧时的视图。

以上附图中各数字标号所指代的部位名称如下：

1-可调测砧、2-可调测砧固紧螺钉、3-可调测砧钢球测量头、4-专用量块、5-测微头螺杆、6-基体、7-定位固紧螺钉、8-千分尺测微头、9-尺架。

具体实施方式

下面结合附图1与具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述：

实施例根据附图1，大尺寸外径千分尺示值误差检定夹具，包括尺架9和安装在尺架9上端套筒内的的千分尺测微头8，尺架9的上端套筒外还装有基体6，基体6的另外一端装有可调测砧1，可调测砧1的中心线与千分尺测微头8的测微头螺杆5的中心线重合。基体6的一端为与尺架9上顶端相配合的套筒，另外一端为竖直放置的立块，可调测砧1穿过立块。基体6通过五颗定位固紧螺钉7固定在尺架9上。可调测砧1通过可调测砧固紧螺钉2固定在基体6上。可调测砧1的一端为球端面的可调测砧钢球测量头3，专用量块4被夹在可调测砧钢球测量头3与测微头螺杆之间。