[实用新型]一种集成电路测试系统的反相装置无效

专利信息
申请号: 200920209400.8 申请日: 2009-09-08
公开(公告)号: CN201583568U 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 刘若智 申请(专利权)人: 上海芯哲微电子科技有限公司
主分类号: G01R1/20 分类号: G01R1/20;G01R31/28;G01R15/22
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 王敏杰
地址: 201400 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 测试 系统 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种反相装置,具体涉及一种集成电路测试系统的反相装置。

背景技术

在集成电路测试领域,测试系统的组合形式多种多样,一般有并行双工位、四工位和串行双工位、四工位测试,最基本的为单工位测试;但是任何一种组合形式的测试系统,都存在通讯干扰,还有许多测试厂考虑测试成本的因素,几乎每个封测厂的测试机品种和机械手品种至少会有四种以上,每台测试机和机械手的整体不一样,为了测试不同的产品,测试机和机械手之间每隔一段时间会有新的组合,每台测试机的接触阻抗和驱动能力不一样,因此就会出现每次新的组合出现通讯中的瞬间干扰信号故障。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种集成电路测试系统的反相装置,它能将测试机和机械手所有端口的TTL信号任意更改,满足测试机和机械手对TTL电平的需求;提高驱动电流,有效消除通讯中的干扰信号,使测试结果可靠准确。

本实用新型集成电路测试系统的反相装置的目的是通过以下技术方案实现的:一种集成电路测试系统的反相装置,包括由前板、后板、顶盖、底盖及两侧板组成的箱体;还包括一印制电路板及安装在印制电路板上的测试电路。

所述的测试电路包括测试机连接器、机械手连接器、反相驱动电路、隔离电路及拨码开关电路。

所述的拨码开关电路的输入端与测试机连接器连接,拨码开关电路的输出端与反相驱动电路的输入端连接,反相驱动电路的输出端与机械手连接器连接;所述的隔离电路串接在测试机连接器与机械手连接器的电源Vcc(端口13)之间。

上述的集成电路测试系统的反相装置,其中,所述的反相驱动电路包括两个反相器集成电路芯片,每个反相器集成电路芯片包括六个反相器;所述的反相驱动电路的各输入端与拨码开关电路的各输出端对应连接,反相驱动电路的各输出端与机械手连接器的各端对应连接。

上述的集成电路测试系统的反相装置,其中,所述的拨码开关电路包括多个拨码开关,所述的拨码开关的多个输入端中每两个相邻的端口分别连接,该并接端口与测试机连接器的相应端口连接,所述的拨码开关的多个输出端中每两个相邻的端口分别与反相驱动电路的反相器的输入端和输出端连接。

上述的集成电路测试系统的反相装置,其中,所述的隔离电路包括一光电耦合器;所述的光电耦合器的端口1及端口2与测试机连接器的电源Vcc连接,光电耦合器的端口3与机械手连接器的电源Vcc(端口13)连接。

上述的集成电路测试系统的反相装置,其中,所述的集成电路测试系统的反相装置还包括一保护电阻R1,所述的保护电阻R1串接在光电耦合器端口4与接地端之间。

上述的集成电路测试系统的反相装置,其中,还包括偏置电阻R2和R3,所述的偏置电阻R2串接在测试机连接器的端口4与接地端口之间;所述的偏置电阻R3串接在机械手连接器的端口4与电源Vcc(端口13)之间。

上述的集成电路测试系统的反相装置,其中,所述的箱体的前板设有测试机连接器安装孔,所述的测试机连接器对应设置在箱体前板的测试机连接器安装孔内;所述的箱体的后板设有机械手连接器安装孔,所述的机械手连接器对应设置在箱体后板的机械手连接器安装孔内;所述的箱体顶盖上设有四个拨码开关安装孔,所述的四个拨码开关分别对应设置在拨码开关安装孔内;所述的箱体底盖上设有两个印制电路板安装孔,所述的印制电路板通过螺丝及印制电路板安装孔固定在底盖上。

本实用新型集成电路测试系统的反相装置由于采用了上述方案,使之与现有技术相比,具有以下的优点和积极效果:

1、本实用新型集成电路测试系统的反相装置由于采用了反相驱动电路,能提高驱动电流及信号反相。

2、本实用新型集成电路测试系统的反相装置由于采用了隔离电路,防止信号干扰,使电压相当稳定,保护电路芯片及使用安全。

3、本实用新型集成电路测试系统的反相装置由于提高了电流的驱动能力和抗干扰能力,使各种新旧型号的各种测试机与机械手的通讯安全可靠。

4、本实用新型集成电路测试系统的反相装置外观简洁美观、成本低、体积小,制作方法简单,易操作,易于普及应用。

附图说明

图1是本实用新型集成电路测试系统的反相装置的正视图。

图2是本实用新型集成电路测试系统的反相装置的后视图。

图3是本实用新型集成电路测试系统的反相装置的俯视图。

图4是本实用新型集成电路测试系统的反相装置的仰视图。

图5是本实用新型集成电路测试系统的反相装置的电路原理图。

具体实施方式

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