[实用新型]一种集成电路测试系统的反相装置无效

专利信息
申请号: 200920209400.8 申请日: 2009-09-08
公开(公告)号: CN201583568U 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 刘若智 申请(专利权)人: 上海芯哲微电子科技有限公司
主分类号: G01R1/20 分类号: G01R1/20;G01R31/28;G01R15/22
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 王敏杰
地址: 201400 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 测试 系统 装置
【权利要求书】:

1.一种集成电路测试系统的反相装置,包括由前板、后板、顶盖、底盖及两侧板组成的箱体;其特征在于:还包括一印制电路板及安装在印制电路板上的测试电路;

所述的测试电路包括测试机连接器、机械手连接器、反相驱动电路、隔离电路及拨码开关电路;

所述的拨码开关电路的输入端与测试机连接器连接,拨码开关电路的输出端与反相驱动电路的输入端连接,反相驱动电路的输出端与机械手连接器连接;所述的隔离电路串接在测试机连接器与机械手连接器的电源Vcc之间。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置,其特征在于:所述的反相驱动电路包括两个反相器集成电路芯片,每个反相器集成电路芯片包括六个反相器;所述的反相驱动电路的各输入端与拨码开关电路的各输出端对应连接,反相驱动电路的各输出端与机械手连接器的各端对应连接。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置,其特征在于:所述的拨码开关电路包括多个拨码开关,所述的拨码开关的多个输入端中每两个相邻的端口分别连接,该并接端口与测试机连接器的相应端口连接,所述的拨码开关的多个输出端中每两个相邻的端口分别与反相驱动电路的反相器的输入端和输出端连接。

4.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置,其特征在于:所述的隔离电路包括一光电耦合器;所述的光电耦合器的端口1及端口2与测试机连接器的电源Vcc连接,光电耦合器的端口3与机械手连接器的电源Vcc连接。

5.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置,其特征在于:所述的集成电路测试系统的反相装置还包括一保护电阻R1,所述的保护电阻R1串接在光电耦合器端口4与接地端之间。

6.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置,其特征在于:还包括偏置电阻R2和R3,所述的偏置电阻R2串接在测试机连接器的端口4与接地端口之间;所述的偏置电阻R3串接在机械手连接器的端口4与电源Vcc之间。

7.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置,其特征在于:所述的箱体的前板设有测试机连接器安装孔,所述的测试机连接器对应设置在箱体前板的测试机连接器安装孔内;所述的箱体的后板设有机械手连接器安装孔,所述的机械手连接器对应设置在箱体后板的机械手连接器安装孔内;所述的箱体顶盖上设有四个拨码开关安装孔,所述的四个拨码开关分别对应设置在拨码开关安装孔内;所述的箱体底盖上设有两个印制电路板安装孔,所述的印制电路板通过螺丝及印制电路板安装孔固定在底盖上。

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