[实用新型]晶圆级芯片封装用环氧树脂薄膜涂覆台有效
| 申请号: | 200920042279.4 | 申请日: | 2009-03-20 |
| 公开(公告)号: | CN201374317Y | 公开(公告)日: | 2009-12-30 |
| 发明(设计)人: | 杜彦召 | 申请(专利权)人: | 昆山西钛微电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/56;H01L21/687 |
| 代理公司: | 昆山四方专利事务所 | 代理人: | 盛建德 |
| 地址: | 215316江苏省昆山市开*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 晶圆级 芯片 封装 环氧树脂 薄膜 涂覆台 | ||
1、一种晶圆级芯片封装用环氧树脂薄膜涂覆台,其特征在于:包括顶升机构(1),所述顶升机构活动穿设于涂覆台中,以使用方向为基准:所述顶升机构上部形成若干顶针(2),所述顶针可穿设过涂覆台上端面;所述涂覆台上设有一组导轨(5),所述顶针位于所述导轨之间。
2、一种晶圆级芯片封装用环氧树脂薄膜涂覆台,其特征在于:包括载物台(4)和顶升机构(1),所述载物台的面积大于等于待涂膜的晶圆级芯片的面积,以使用方向为基准:所述载物台活动定位于涂覆台上部中,顶升机构活动穿设于涂覆台和载物台中,所述顶升机构上部形成若干顶针(2),所述顶针可穿设过载物台;所述涂覆台上设有一组导轨(5),所述载物台位于所述导轨之间。
3、根据权利要求2所述的晶圆级芯片封装用环氧树脂薄膜涂覆台,其特征在于:以使用方向为基准:所述载物台的上端面与涂覆台的上端面齐平。
4、根据权利要求2所述的晶圆级芯片封装用环氧树脂薄膜涂覆台,其特征在于:以使用方向为基准:所述载物台的上端面低于涂覆台的上端面,且所述载物台和涂覆台上端面间的距离小于等于待涂胶的晶圆厚度。
5、根据权利要求2、3或4所述的晶圆级芯片封装用环氧树脂薄膜涂覆台,其特征在于:设有一旋转手柄(3),以使用方向为基准:该旋转手柄上部活动穿设过涂覆台并与载物台下部连接,所述旋转手柄可带动载物台相对涂覆台转动。
6、根据权利要求5所述的晶圆级芯片封装用环氧树脂薄膜涂覆台,其特征在于:所述载物台可相对涂覆台转动九十度。
7、根据权利要求5所述的晶圆级芯片封装用环氧树脂薄膜涂覆台,其特征在于:所述旋转手柄上部通过转动机构与载物台下部连接。
8、根据权利要求1或2所述的晶圆级芯片封装用环氧树脂薄膜涂覆台,其特征在于:设有一汽缸,所述顶升机构与汽缸活塞连接。
9、根据权利要求1所述的晶圆级芯片封装用环氧树脂薄膜涂覆台,其特征在于:涂覆台上开上有若干真空吸盘口,所述真空吸盘口内容置有真空吸盘,设有真空发生装置,所述真空吸盘与真空发生装置连接。
10、根据权利要求2所述的晶圆级芯片封装用环氧树脂薄膜涂覆台,其特征在于:涂覆台和所述载物台上对应开设有若干真空吸盘口,所述真空吸盘口内容置有真空吸盘,设有真空发生装置,所述真空吸盘与真空发生装置连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





