[发明专利]动态随机存取存储器的测试方法

权利要求书

1.一种动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)的测试方法，用于对DRAM进行全面检测，所述DRAM位于系统芯片(System on Chip，SoC)的外部，所述DRAM存储有测试程序，所述SoC包括中央处理器(CPU)及随机存取存储器(RAM)，所述CPU包括有多个寄存器，其特征在于，所述方法包括：

步骤(a)：将所述DRAM存储的测试程序复制到所述RAM；

步骤(b)：将所述DRAM的起始物理地址存储于所述CPU内的第一寄存器；

步骤(c)：将所述DRAM的结束物理地址存储于所述CPU内的第二寄存器；

步骤(d)：将测试字组数据写入到所述CPU内的第一寄存器所存储的所述DRAM的起始物理地址上；

步骤(e)：从所述DRAM的起始物理地址上读取所述测试字组数据；

步骤(f)：比较并判断从所述DRAM的起始物理地址上所读取的测试字组数据是否与所写入的测试字组数据相同；

步骤(g)：若相同，则将所述CPU内第一寄存器所存储的所述DRAM的起始物理地址累加一固定值，以形成下一个起始物理地址；

步骤(h)：判断所述下一个起始物理地址是否小于所述CPU内第二寄存器所存储的所述DRAM的结束物理地址；

步骤(i)：若所述下一个起始物理地址小于所述CPU内第二寄存器所存储的所述DRAM的结束物理地址，则将测试字组数据写入到所述下一个起始物理地址上，并返回步骤(e)以继续测试；及

步骤(j)：若所述下一个起始物理地址大于或等于所述CPU内第二寄存器所存储的所述DRAM的结束物理地址，则返回测试结果并结束测试程序。

2.如权利要求1所述的动态随机存取存储器的测试方法，其特征在于，所述方法中将所述DRAM存储的测试程序复制到所述RAM的步骤包括：

将所述RAM的空闲区域的起始物理地址存储于所述CPU内的第三寄存器；

将所述DRAM测试程序所占用的所述DRAM区域中的起始物理地址存储于所述CPU内的第四寄存器；

将所述DRAM测试程序所占用的所述DRAM区域中的结束物理地址存储于所述CPU内的第五寄存器；

将所述DRAM测试程序复制到所述CPU内的第三寄存器所存储的所述RAM的空闲区域的起始物理地址上；

将所述CPU内的第三寄存器所存储的所述RAM的空闲区域的起始物理地址加一固定值，以形成新的起始物理地址；

将所述CPU内的第四寄存器所存储的所述起始物理地址累加一相同的固定值；

判断累加后的所述CPU内的第四寄存器所存储的起始物理地址是否小于所述CPU内的第五寄存器所存储的所述结束物理地址；

若累加后的所述CPU内的第四寄存器所存储的起始物理地址小于所述CPU内的第五寄存器所存储的所述结束物理地址，则继续将所述DRAM测试程序复制到所述CPU内的第三寄存器所存储的所述RAM的空闲区域的新的起始物理地址上；及

若累加后的所述CPU内的第四寄存器所存储的起始物理地址大于或等于所述CPU内的第五寄存器所存储的所述结束物理地址，则停止复制。

3.如权利要求1或2所述的动态随机存取存储器的测试方法，其特征在于，所述固定值为4。

4.如权利要求1所述的动态随机存取存储器的测试方法，其特征在于，所述方法还包括启动测试程序对所述DRAM进行测试，其中，所述CPU内的第六寄存器存储有返回的物理地址。

5.如权利要求4所述的动态随机存取存储器的测试方法，其特征在于，所述方法还包括将所述CPU内的第六寄存器所存储的返回物理地址存储于所述DRAM中的堆栈(stack)。

6.如权利要求1所述的动态随机存取存储器的测试方法，其特征在于，若从所述DRAM的起始物理地址上所读取的测试字组数据与写入的测试字组数据不相同，则返回测试失败结果并结束测试程序。