[发明专利]用于触控装置的侦测触碰位置的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于触控装置的侦测触碰位置的方法，且特别指一种用于电阻式触控装置的侦测触碰位置的方法。

背景技术

请参阅图1，是现有技术电阻式触控装置的剖面示意图。该电阻式触控装置10主要包括一第一导电层12、一第二导电层14和多个间隔球(Spacer)16，这些间隔球16位于第一导电层12和第二导电层14之间，以将第一导电层12和第二导电层14分开，避免无触碰时造成短路而产生错误动作。第一导电层12和第二导电层14分别负责侦测触碰处的不同轴向的位置，例如第一导电层12负责侦测X轴向的位置，第二导电层14负责侦测Y轴向的位置。

在操作时，第一导电层12和第二导电层14分别被施以一不同电压，当使用者碰触触控装置10时，第一导电层12的对应触碰处的区域和第二导电层14的对应触碰处的区域将接触而使第一导电层12和第二导电层14分别产生电压变化，通过侦测第一导电层12的电压变化可得知触碰处在X轴向的位置，以及通过侦测第二导电层14的电压变化可得知触碰处在Y轴向的位置。

在理想状态下，触控装置10侦测到的触碰处的位置应等于触碰处的实际位置，但由于第一导电层12中的导电线路间之间距、第二导电层14中的导电线路间之间距和所使用的数据处理方法等影响，将产生误差，造成侦测到的触碰处的位置与触碰处的实际位置不相同。

发明内容

为了解决现有技术中用于触控装置的侦测触碰位置的方法易产生误差的问题，有必要提供一种可有效避免误差产生的用于触控装置的侦测触碰位置的方法。

一种用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其包括：提供一触控装置，该触控装置具有一第一导电层和设置在该第一导电层的一侧边的多个感测电极，该感测电极彼此相间隔；提供一第一电压到该第一导电层；触碰该触控装置而使该第一导电层的一区域的该第一电压被改变，其中该区域是对应触碰该触控装置的触碰处，该触碰处具有一触碰位置；量测该感测电极而得到多个电压信号；依据该电压信号和一位置估算模式而得一第一感测位置；和依据该第一感测位置和一校正模式而得一第二感测位置，其中该第二感测位置等于该触碰位置，该校正模式具有一第一曲线关系。

另外，一种用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其包括：提供一触控装置，该触控装置具有一第一导电层和设置在该第一导电层的一第一侧边的多个感测电极，该感测电极彼此相间隔；提供一第一电压到该第一导电层；触碰该触控装置而使该第一导电层的一区域的该第一电压被改变，其中该区域是对应触碰该触控装置的触碰处，该触碰处具有一触碰位置；量测该感测电极而得到多个电压信号，其中该电压信号包括一极值电压信号、一第一电压信号和一第二电压信号，该感测电极包括一第一感测电极、一第二感测电极和一第三感测电极，该第一电压信号自该第一感测电极而得出，该极值电压信号自该第二感测电极而得出，该第二电压信号自该第三感测电极而得出，该第二感测电极位于该第一感测电极与该第三感测电极之间，并且该第二感测电极分别与该第一感测电极和该第三感测电极相邻；依据一电压调整模式调整该第二电压信号而得一修正电压信号；依据该第一电压信号、该极值电压信号、该修正电压信号和一位置估算模式而得一第一感测位置；和依据该第一感测位置和一校正模式而得一第二感测位置，其中该第二感测位置等于该触碰位置，该校正模式具有一第一曲线关系。

综上所述，由于本发明的实施例的该侦测该触碰位置的方法是利用该位置估算模式来产生该第一感测位置，再利用该校正模式来修正该第一感测位置而产生该第二感测位置，此时，该第二感测位置将等于该触碰位置，因此定位出该触碰处的X值，侦测出该触碰处的位置，解决了现有的误差问题。

附图说明

图1是一种现有技术电阻式触控装置的剖面示意图。

图2是本发明实施例所应用的触控装置的剖面示意图。

图3是图2所示触控装置的第一导电层和第二导电层的相对位置示意图。

图4是本发明的一实施例的侦测触碰位置的方法的流程图。

图5是第一X轴向感测位置与X轴向触碰位置的坐标示意图。

具体实施方式