[发明专利]用于触控装置的侦测触碰位置的方法

权利要求书

1.一种用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其包括：

提供一触控装置，其具有一第一导电层和设置在该第一导电层的一侧边的多个感测电极，该感测电极彼此相间隔；

提供一第一电压到该第一导电层；

触碰该触控装置而使该第一导电层的一区域的该第一电压被改变，其中该区域是对应触碰该触控装置的触碰处，该触碰处具有一触碰位置；

量测该感测电极而得到多个电压信号；

依据该电压信号和一位置估算模式而得一第一感测位置；和

依据该第一感测位置和一校正模式而得一第二感测位置，其中该第二感测位置等于该触碰位置，该校正模式具有一第一曲线关系。

2.如权利要求1所述的用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其特征在于：该校正模式的该第一曲线关系为一第一波形曲线关系。

3.如权利要求2所述的用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其特征在于：该位置估算模式所得的该第一感测位置与该触碰位置间存在一第二波形曲线关系，该第二波形曲线关系与该第一波形曲线关系呈反相。

4.如权利要求2所述的用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其特征在于：该电压信号包括一极值电压信号、一第一电压信号和一第二电压信号，该感测电极包括一第一感测电极、一第二感测电极和一第三感测电极，该第一电压信号自该第一感测电极而得出，该极值电压信号自该第二感测电极而得出，该第二电压信号自该第三感测电极而得出，该第二感测电极位于该第一感测电极与该第三感测电极之间，并且该第二感测电极分别与该第一感测电极和该第三感测电极相邻。

5.如权利要求4所述的用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其特征在于：该第一波形曲线关系以该第二感测电极的位置为反曲点。

6.如权利要求4所述的用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其特征在于：该感测电极中的每相邻两者是相距一间距，该位置估算模式所包含的多个运算参数包括该极值电压信号与该第一电压信号的差值、该极值电压信号与第二电压信号的差值和该间距。

7.如权利要求2所述的用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其特征在于：该校正模式包含一补偿表，该补偿表内的多个数据呈现该第一波形曲线关系。

8.如权利要求7所述的用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其特征在于：该补偿表内的这些数据具有该触碰位置与该第一感测位置间的差值。

9.如权利要求1所述的用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其特征在于：该第一导电层具有阻抗异向性。

10.如权利要求9所述的用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其特征在于：该触控装置进一步具有一第二导电层，与该第一导电层相迭合，该侦测触碰位置的方法进一步包括：提供一第二电压到该第二导电层，该第二电压不同于该第一电压，其中在该触碰该触控装置的步骤中，该第一导电层的对应该触碰处的该区域与该第二导电层的对应该触碰处的区域相接触而使该第一电压被改变。

11.一种用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其包括：

提供一触控装置，其具有一第一导电层和设置在该第一导电层的一第一侧边的多个感测电极，该感测电极彼此相间隔；

提供一第一电压到该第一导电层；

触碰该触控装置而使该第一导电层的一区域的该第一电压被改变，其中该区域是对应触碰该触控装置的触碰处，该触碰处具有一触碰位置；

量测该感测电极而得到多个电压信号，其中该电压信号包括一极值电压信号、一第一电压信号和一第二电压信号，该感测电极包括一第一感测电极、一第二感测电极和一第三感测电极，该第一电压信号自该第一感测电极而得出，该极值电压信号自该第二感测电极而得出，该第二电压信号自该第三感测电极而得出，该第二感测电极位于该第一感测电极与该第三感测电极之间，并且该第二感测电极分别与该第一感测电极和该第三感测电极相邻；

依据一电压调整模式调整该第二电压信号而得一修正电压信号；

依据该第一电压信号、该极值电压信号、该修正电压信号和一位置估算模式而得一第一感测位置；和

依据该第一感测位置和一校正模式而得一第二感测位置，其中该第二感测位置等于该触碰位置，该校正模式具有一第一曲线关系。