[发明专利]一种大尺寸晶粒取向的检测方法

权利要求书

1.一种大尺寸晶粒取向的检测方法，其特征在于建立成品晶粒取向数据库，通过EBSD技术将成品晶粒颜色和晶体学数据结合，建立颜色与晶体学数据的对应关系，并记录对应成品材料的腐蚀条件；检测待测的样品时，先检索数据库，搜索出与其对应的腐蚀条件，按同样的腐蚀方式腐蚀后，在同一光源条件、同一观察视角条件下，记录晶粒的颜色，与数据库相应颜色的取向对应，得到待测样品的取向。

2.根据权利要求1所述的大尺寸晶粒取向的检测方法，其特征在于数据库的建立：

(1)计算不同取向晶粒的比表面能、计算腐蚀条件

根据不同金属材料和不同取向晶粒的表面能不同，通过腐蚀理论得出腐蚀条件，腐蚀条件是指在一定的环境温度、一定的腐蚀液配比和浓度、一定的腐蚀时间下，不同取向的晶粒腐蚀呈现各向异性；

(2)制备一定规格尺寸的标准样品，腐蚀样品；

(3)样品颜色的观察，观察的光源条件、观察距离和观察角度要一致；

(4)采用EBSD技术扫描不同颜色的晶粒获取晶体学数据，晶体学数据包括晶粒的取向，偏离理想取向的偏离角度数据。

3.根据权利要求1所述的大尺寸晶粒取向的检测方法，其特征在于待测样品的检测：

批量的待测样品按以上数据库所记录的腐蚀条件进行腐蚀，固定条件下观察得出的晶粒颜色与相同条件下的数据库晶粒颜色对比，进而批量得到待测样品的晶粒取向数据，从而实现待测样品的织构类型、组分含量、取向度。