[发明专利]增强型线性梯度掺杂的GaAs平面耿氏二极管及其制作方法无效

专利信息
申请号: 200910238762.4 申请日: 2009-11-24
公开(公告)号: CN102074651A 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 黄杰;杨浩;董军荣;吴茹菲;张海英 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L47/02 分类号: H01L47/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 增强 线性 梯度 掺杂 gaas 平面 耿氏二极管 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管,其特征在于,该二极管包括:

用于支撑整个GaAs平面耿氏二极管的半导体绝缘衬底;

在半导体绝缘衬底上外延生长的高掺杂下底面N+层;

在下底面N+层上继续外延生长的线性梯度掺杂N型层;

在线性梯度掺杂N型层上外延生长的N-型层;

在N-型层上外延生长的高掺杂上表面N+层;

经过挖岛和隔离两个工艺步骤,在下底面N+层和上表面N+层上形成的台面结构;

在上表面N+型层上蒸发金属形成欧姆接触的上电极;以及

在下底面N+型层上蒸发金属形成欧姆接触的下电极。

2. 根据权利要求1所述的GaAs平面耿氏二极管,其特征在于,所述半导体绝缘衬底是半导体绝缘GaAs衬底。

3.根据权利要求1所述的GaAs平面耿氏二极管,其特征在于,所述N型层与所述N-型层之间的交界处为低掺杂,所述N型层与所述下表面N+层之间的交界处为高掺杂;从N型层与N-型层之间界面到下表面N+层与N层界面之间的掺杂浓度满足线性梯度掺杂分布。

4.一种GaAs平面耿氏二极管的制作方法,其特征在于,该方法包括:

A、在半导体绝缘衬底上外延生长高掺杂的下底面N+层;

B、在下底面N+层上外延生长的线性梯度掺杂的N型层;

C、在线性梯度掺杂的N型层上生长的N-型层;

D、在N-型层上生长的高掺杂的上表面N+层;

E、采用湿法刻蚀减小上表面N+层和下底面N+层的面积,形成上表面N+层与下底面N+层的台面结构;

F、在上表面N+层和下底面N+层上分别蒸发金属形成欧姆接触;

G、采用湿法刻蚀,形成半导体绝缘衬底的台面结构;在该半导体绝缘衬底的台面结构上蒸发金属形成上、下电极引线,通过制作空气桥把上表面N+型层上的电极引出。

5.根据权利要求4所述的GaAs平面耿氏二极管的制作方法,其特征在于,所述半导体绝缘衬底是半导体绝缘GaAs衬底。

6.根据权利要求4所述的GaAs平面耿氏二极管的制作方法,其特征在于,所述在半导体绝缘衬底的台面结构上蒸发金属形成的上、下电极引线采用的金属为Ti/Pt/Au。

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