[发明专利]片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法与用以实施该方法的检测与后处理机

说明书

技术领域

本发明涉及高分子成型加工技术，特别是一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法与用以实施该方法的检测与后处理机。

背景技术

就一般高分子成型加工技术而言，应用模具模制所需形状及尺寸物品的技术手段，固然属于公知熟用的基础技术，但其具体的技术内容则因应着不同的制程条件而有诸多的形态，举例而言，在成型片状物时，有采用两段式制程的先例，即先将高分子物成型为片状料，再以所需最终成型的尺寸为标准，裁切相等的片状料为初胚，再经热压模塑所需的外观形状与花纹，此等制程固可获得尺寸精确的最终成型产品，惟其采用两段式的制程方法，除了延宕制程的循环时间外，在第一段的裁切步骤上则会衍生过多的废弃物料，对于资源的有效利用并非理想。

是以，在产业的实施上，即揭露有以单一制程完成如该等片状物的方法，其主要的技术内容是将定量的原料以成型模具直接模制成最终的片状成型物，而略去先成形为片状体后再裁切为定尺寸的步骤；其中，原料在被填入成型模具时的形态，则有仅为单纯混合而呈分散状态的原料组成，亦有先将原料组成经混合后先行模制为个别独立的定量初胚模块；此等单一制程，其所附随而生的是最终产品的尺寸精度问题，此问题产生的原因，除有存在于原料于模具内部的模制程序的瑕疵之外，亦可能存在于成型物离开成型模具后在受控制温度环境下的后稳型程序中，以及其采模外发泡所致。

但是，在已公开的技术内容中，尚欠缺得以快速进行片状成型物尺寸检测的自动化技术内容。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其可快速自动化地进行片状高分子成型物的尺寸检测，以遂行自动化的品管程序。

本发明的另一目的则是提供一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，其可对于尺寸误差超过设定值的成型物，以物理性方法调整尺寸至可容许的误差值内。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种片状高分子成型物尺寸检测及其后处理的方法，包括下述步骤：

a.使经过后稳型程序的待检测片状高分子成型物位于一水平面上；

b.将该待检测的片状高分子成型物于该水平面上被水平地位移至一检测位置上；

c.以该待检测的片状高分子成型物的一侧为基侧，并将该基侧定位于一基准点上；

d.以该待检测片状高分子成型物相背于该基侧的另一侧为受测侧，并以一感应装置感测该待检测高分子成型物受测侧所在位置，以检测该待检测片状高分子成型物介于该基测与该受测侧间的距离，以获得其对应的尺寸数值；

e.当所获得的片状高分子成型物尺寸在容许的尺寸误差值内时即判定为良品；而当所获得的片状高分子成型物尺寸在容许的尺寸误差值范围以外时即判定为次品；

f.当所述次品的尺寸小于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最小值时，延展该次品，以增加其基侧至受测侧间的距离；

而当所述次品的尺寸大于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最大值时，使该次品位于一预定温度的环境下，使该次品收缩以缩小而减少其基侧至受测侧间的距离。

在该步骤d中，使该感应装置以位移方式感测该受测侧的位置；该感应装置于位移乃是位于一原点位置上，该原点位置并与该基准点相隔固定距离，而以该感应装置自该原点至该受测侧的位移距离与该固定距离之差或和，为该基侧至该受测侧间的距离，据以获得该待检测片状高分子成型物的尺寸。

所述固定距离大于待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离，而于该d步骤中，即以该位移距离与该固定距离的差值作为该待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离。

所述固定距离小于待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离，而于该d步骤中，即以该位移距离与该固定距离的和值为该待检测片状高分子成型物的基侧与受测侧间的距离。

所述f步骤中，当所述次品的尺寸小于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最小值时，以辊轮滚压该次品，从而通过延展而增加其基侧至受测侧间的距离。

所述f步骤中，当所述次品的尺寸大于片状高分子成型物尺寸误差容许值的最大值时，使该次品以定速于一预定温度环境下位移，通过调整该定速速度或预定的温度值高低，以控制该次品受热能作用的程度。

所述感应装置为光纤感应。

所述待检测的片状高分子成型物概呈矩形，该基侧与该受测侧分别位于矩形的长轴两端，并于该c步骤进行的同时，使该待检测的片状高分子成型物矩形的短轴两端亦受到定位。

一种用以实施权利要求1所述方法的检测与后处理机，它包括：