[发明专利]使集成存储器控制器能透明地与有缺陷存储器装置工作

权利要求书

1.一种集成电路，包括：

第一逻辑，在存储器模块的正常操作期间在所述存储器模块上强制实行边际条件，其中所述存储器模块将与所述第一逻辑耦合；以及

第二逻辑，补偿在所述存储器模块上强制实行的所述边际条件。

2.如权利要求1所述的集成电路，其中所述边际条件是边际操作电压。

3.如权利要求1所述的集成电路，其中所述边际条件是边际操作温度。

4.如权利要求1所述的集成电路，其中所述边际条件是边际刷新率。

5.如权利要求4所述的集成电路，其中所述第二逻辑是补偿所述边际刷新率的逻辑。

6.如权利要求5所述的集成电路，其中所述第二逻辑包括硬错误检测逻辑以检测与所述存储器模块上的存储器位置相关联的硬错误。

7.如权利要求6所述的集成电路，其中所述第二逻辑还包括重新安置逻辑以重新安置离开所述存储器位置的数据。

8.如权利要求7所述的集成电路，还包括：

与所述第二逻辑耦合的纠错逻辑，所述纠错逻辑检测所述存储器模块上存储的信息中的错误。

9.如权利要求1所述的集成电路，还包括：

一个或多个处理器核。

10.如权利要求9所述的集成电路，还包括：

存储器控制器，控制与所述存储器模块的信息的传送。

11.一种方法，包括：

初始化计算系统；

在存储器模块的正常操作期间在所述存储器模块上强制实行边际条件；以及

补偿在所述存储器模块上强制实行的所述边际条件。

12.如权利要求11所述的方法，其中所述边际条件是边际操作电压。

13.如权利要求11所述的方法，其中所述边际条件是边际操作温度。

14.如权利要求11所述的方法，其中所述边际条件是边际刷新率。

15.如权利要求14所述的方法，其中补偿在所述存储器模块上强制实行的所述边际条件包括：

检测与所述存储器模块上的存储器位置相关联的硬错误。

16.如权利要求15所述的方法，其中检测与所述存储器模块上的存储器位置相关联的硬错误包括：

使用纠错逻辑来检测从所述存储器位置读取的信息中的错误；以及

确定所检测的错误是硬错误还是软错误。

17.如权利要求16所述的方法，其中确定所检测的错误是硬错误还是软错误包括：

确定所述错误是否持续存在。

18.如权利要求15所述的方法，其中补偿在所述存储器模块上强制实行的所述边际条件还包括：

将信息从所述存储器位置重新安置到另一存储器位置。

19.一种系统，包括：

存储器模块，提供用于计算系统的主存储器的至少一部分；以及

集成电路，经存储器互连与所述存储器模块耦合，所述集成电路包括

第一逻辑，在所述存储器模块的正常操作期间在所述存储器模块上强制实行边际条件；以及

第二逻辑，补偿在所述存储器模块上强制实行的所述边际条件。

20.如权利要求19所述的系统，其中所述边际条件是边际操作电压。

21.如权利要求19所述的系统，其中所述边际条件是边际操作温度。

22.如权利要求19所述的系统，其中所述边际条件是边际刷新率。

23.如权利要求22所述的系统，其中所述第二逻辑是补偿所述边际刷新率的逻辑。

24.如权利要求23所述的系统，其中所述第二逻辑包括硬错误检测逻辑以检测与所述存储器模块上的存储器位置相关联的硬错误。

25.如权利要求24所述的系统，其中所述第二逻辑还包括重新安置逻辑以重新安置离开所述存储器位置的数据。

26.如权利要求25所述的系统，其中，所述集成电路还包括：

与所述第二逻辑耦合的纠错逻辑，所述纠错逻辑检测所述存储器模块上存储的信息中的错误。