[发明专利]点胶机回授控制方法有效
| 申请号: | 200910210983.0 | 申请日: | 2009-11-13 |
| 公开(公告)号: | CN102064270A | 公开(公告)日: | 2011-05-18 |
| 发明(设计)人: | 黄宏岳 | 申请(专利权)人: | 黄宏岳 |
| 主分类号: | H01L33/52 | 分类号: | H01L33/52;H01L21/56;H01L21/66 |
| 代理公司: | 北京申翔知识产权代理有限公司 11214 | 代理人: | 周春发;艾晶 |
| 地址: | 中国台湾桃园县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 点胶机回授 控制 方法 | ||
1.一种点胶机回授控制方法,其特征在于,是依序包括有下列步骤:
a.由一点胶单元以每次一预定数量的方式对料片上的所有发光二极管元件进行点胶;
b.由一测试比对单元对完成点胶动作的发光二极管元件供电,使各发光二极管元件达到出光效果,再就各发光二极管元件的出光特性进行比对,并将相关比对测试资讯回授至点胶单元,可使该点胶单元依据该相关比对测试资讯来即时修正出胶量。
2.如权利要求1所述的点胶机回授控制方法,其特征在于,该测试比对单元具有一资料库,而该步骤b是就各发光二极管元件的出光光型与资料库所存取的参数进行比对。
3.如权利要求1所述的点胶机回授控制方法,其特征在于,依光型影像面积变化推算胶量,进而推算出点胶量曲线。
4.如权利要求1所述的点胶机回授控制方法,其特征在于,该测试比对单元具有一资料库,而该步骤b是就各发光二极管元件的出光色泽与资料库所存取的参数进行比对。
5.如权利要求1所述的点胶机回授控制方法,其特征在于,进一步结合有一光学全检步骤,是由一光学全检单元可对发光二极管元件进行分级。
6.如权利要求1所述的点胶机回授控制方法,其特征在于,该步骤b之后进一步结合有一步骤c,该步骤c由一干燥单元对完成点胶动作并完成测试比对的料片进行烘干。
7.如权利要求6所述的点胶机回授控制方法,其特征在于,该步骤c之后进一步结合有一步骤d,该步骤d是由一下料单元对发光二极管元件进行下料流程,该下料单元亦可接收该测试比对单元的相关比对测试资讯,仅将判定为良品的发光二极管元件进入后续的包装单元进行包装流程。
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