[发明专利]点胶机回授控制方法有效

专利信息
申请号: 200910210983.0 申请日: 2009-11-13
公开(公告)号: CN102064270A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 黄宏岳 申请(专利权)人: 黄宏岳
主分类号: H01L33/52 分类号: H01L33/52;H01L21/56;H01L21/66
代理公司: 北京申翔知识产权代理有限公司 11214 代理人: 周春发;艾晶
地址: 中国台湾桃园县*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 点胶机回授 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种点胶机回授控制方法,其特征在于,是依序包括有下列步骤:

a.由一点胶单元以每次一预定数量的方式对料片上的所有发光二极管元件进行点胶;

b.由一测试比对单元对完成点胶动作的发光二极管元件供电,使各发光二极管元件达到出光效果,再就各发光二极管元件的出光特性进行比对,并将相关比对测试资讯回授至点胶单元,可使该点胶单元依据该相关比对测试资讯来即时修正出胶量。

2.如权利要求1所述的点胶机回授控制方法,其特征在于,该测试比对单元具有一资料库,而该步骤b是就各发光二极管元件的出光光型与资料库所存取的参数进行比对。

3.如权利要求1所述的点胶机回授控制方法,其特征在于,依光型影像面积变化推算胶量,进而推算出点胶量曲线。

4.如权利要求1所述的点胶机回授控制方法,其特征在于,该测试比对单元具有一资料库,而该步骤b是就各发光二极管元件的出光色泽与资料库所存取的参数进行比对。

5.如权利要求1所述的点胶机回授控制方法,其特征在于,进一步结合有一光学全检步骤,是由一光学全检单元可对发光二极管元件进行分级。

6.如权利要求1所述的点胶机回授控制方法,其特征在于,该步骤b之后进一步结合有一步骤c,该步骤c由一干燥单元对完成点胶动作并完成测试比对的料片进行烘干。

7.如权利要求6所述的点胶机回授控制方法,其特征在于,该步骤c之后进一步结合有一步骤d,该步骤d是由一下料单元对发光二极管元件进行下料流程,该下料单元亦可接收该测试比对单元的相关比对测试资讯,仅将判定为良品的发光二极管元件进入后续的包装单元进行包装流程。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于黄宏岳,未经黄宏岳许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910210983.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top