[发明专利]含烧结接头的模块有效
申请号: | 200910203413.9 | 申请日: | 2009-05-19 |
公开(公告)号: | CN101593709A | 公开(公告)日: | 2009-12-02 |
发明(设计)人: | 卡斯滕·古特;伊万·尼基廷 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60;H01L23/488;H01L23/15;H01L25/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 吴贵明;李 慧 |
地址: | 德国瑙伊*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 烧结 接头 模块 | ||
技术领域
电力电子模块是用于电力电子电路的半导体封装。电力电子模 块典型地用于车载和工业应用中,例如在逆变器和整流器中。包含 于电力电子模块内的半导体组件典型地是绝缘栅双极型晶体管 (IGBT)半导体芯片或金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET) 半导体芯片。IGBT和MOSFET半导体芯片具有变化的电压额定值 和电流额定值。一些电力电子模块也包含半导体封装中的附加半导 体二极管(即,续流二极管),用于过电压保护。
背景技术
一般而言,采用两种不同的电力电子模块设计。一种设计用于 高电力(或者说高功率)应用,另一种设计用于低电力(或者说低 功率)应用。对于高电力应用,电力电子模块典型地包括集成在单 个基板上的几个半导体芯片。基板典型地包括绝缘陶瓷基板(例如 Al2O3、AlN、Si3N4或其它合适的材料),以使电力电子模块绝缘。 将至少陶瓷基板的顶面用纯的或镀的Cu、Al或其它合适的材料金 属化,以便为半导体芯片提供电性和机械接触。典型地,利用直接 铜键合(DCB)工艺、直接铝键合(DAB)工艺或金属活性钎焊 (AMB)工艺将金属层与陶瓷基板结合。
典型地,使用含Sn-Pb、Sn-Ag、Sn-Ag-Cu或其它合适焊料合 金的软焊料将半导体芯片连接至金属化的陶瓷基板。典型地,将几 个基板结合在金属底板上。在这种情况下,陶瓷基板的背面也用纯 的或镀的Cu、Al或其它合适的材料金属化,以用于将基板连接至 金属底板。为了将基板接合至金属底板,典型地采用含Sn-Pb、 Sn-Ag、Sn-Ag-Cu或其它合适焊料合金的软焊料。
对于低电力(或者说低功率)应用,典型地采用引线框架基板 (例如,纯Cu基板)代替陶瓷基板。取决于具体应用,引线框架 基板典型地镀有Ni、Ag、Au和/或Pd。典型地,使用含Sn-Pb、Sn-Ag、 Sn-Ag-Cu或其它合适焊料合金的软焊料将半导体芯片接合至引线 框架基板。
对于高温应用,焊接接头的低熔点(Tm=180℃-220℃)成 为电力电子模块的临界参数。在电力电子模块的工作期间,半导体 芯片下面的区域暴露在高温下。在这些区域中,半导体芯片内散发 的热量叠加至周围空气温度。这导致了在电力电子模块工作期间的 热循环。典型地,考虑到热循环可靠性,高于150℃时不能保证焊 接接头的可靠功能。如果高于150℃,在几个热循环后在焊接区域 内可能形成裂缝。这些裂缝能很容易延伸至整个焊接区域上并导致 电力电子模块故障。
随着日益增加的在恶劣环境(例如,汽车应用)中使用电力电 子器件的需求以及当前的半导体芯片集成,外部散热和内部散热不 断增加。因此,对于能在达到并超过200℃的内部和外部温度下工 作的高温电力电子模块的需求日益增长。另外,为了降低高温电力 电子模块的成本,应该避免用贵金属表面将半导体芯片连接至基板 以及用贵金属表面将基板连接至金属底板。
由于这些原因以及其它原因,所以需要提出本发明。
发明内容
本发明的一个实施例提供了制造模块的方法。该方法包括将包 含金属颗粒、溶剂和烧结抑制剂的膏体(paste)施加于晶粒(或者 称为芯片die)和金属层中的其中之一上。该方法包括使膏体中的 溶剂蒸发并将晶粒和金属层中的该其中之一放置于晶粒和金属层 中的另一个上,使得膏体与晶粒和金属层接触。该方法包括对晶粒 和金属层中的该其中一个施加力并使烧结抑制剂分解以形成将晶 粒接合至金属层的烧结接头。
附图说明
本文包含了附图以提供对本发明的进一步理解,这些附图结合 在本说明书中并构成了本说明书的一部分。附图示出了实施例并和 该说明一起用于阐述这些实施例的原理。通过参考下面的详细说明 而对本发明实施例的更好理解,可以很容易理解本发明的其它实施 例以及本发明实施例的许多预期优点。这些附图中的元件并不必然 彼此成比例。相同的参考数字指的是相同部件。
图1示出了模块的一个实施例的截面图;
图2示出了模块的另一个实施例的截面图;
图3示出了半导体芯片和金属膏体的一个实施例的截面图;
图4示出了干燥金属膏体后半导体芯片和金属膏体的一个实施 例的截面图;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造