[发明专利]半导体测试中精确计算等待时间的方法无效
| 申请号： | 200910201875.7 | 申请日： | 2009-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN102081139A | 公开（公告）日： | 2011-06-01 |
| 发明（设计）人： | 周翔;武建宏;桑浚之;辛吉升 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 孙大为 |
| 地址： | 201206 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体 测试 精确 计算 等待时间 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种半导体测试中精确计算等待时间的方法；其特征在于，包括以下步骤：
步骤一、在测试向量中始终比较高电平，记录变为低电平的时间点A；
步骤二、然后在测试向量中始终比较低电平，记录高电平的开始的时间点B；
步骤三、用时间点A减去时间点B得到等待时间值。
2.如权利要求1所述的半导体测试中精确计算等待时间的方法；其特征在于，所述步骤一中利用模式失败记录模块记录变为低电平的时间点A。
3.如权利要求1所述的半导体测试中精确计算等待时间的方法；其特征在于，所述步骤二中利用模式失败记录模块记录高电平的开始的时间点B。
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