[发明专利]主动元件阵列以及检测方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种主动元件阵列及检测方法，且特别是有关于一种可有效检出短路缺陷的主动元件阵列及检测方法。

背景技术

一般而言，液晶显示面板包括一主动元件阵列基板、一对向基板及夹于两基板间的液晶层。主动元件阵列基板在制造完成之后必须对其主动元件阵列进行检测，以确定主动式液晶显示面板能正常地进行显示。

目前，主动元件阵列的检测多着眼于像素结构能否正常的进行显示。若主动元件阵列的其他线路出现缺陷，例如是短路或断路，往往会在液晶显示器或液晶显示面板组装完成后才会进一步被检测出来。

换言之，目前的检测方法中，主动元件阵列中某些传输线路上的缺陷是在液晶显示面板组装完成后才被检测出来。因此，这样的缺陷若使得产品无法正常运作则整个液晶显示面板必须报废，而浪费许多成本。特别是，在主动元件阵列的线路布局中，为了节省布线面积，传输线路必须紧密地排列。此时，线路之间的短路缺陷更容易出现而液晶显示面板的报废率以及成本的浪费也可能随之提升。

发明内容

本发明提供一种主动元件阵列，其检测线路设计可有效检测出线路间的缺陷。

本发明提供一种检测方法，可有效检测出主动元件阵列中的短路缺陷。

本发明提供一种主动元件阵列，其包括多条扫描线、多条数据线、多个像素结构、一第一检测线路、一第二检测线路、一第三检测线路以及一第四检测线路。扫描线彼此平行排列，以在扫描线的延伸方向上定义出相对的一第一区以及一第二区。数据线的延伸方向与扫描线的延伸方向相交，且数据线位于第一区以及第二区之间。像素结构位于第一区以及第二区之间，且各像素结构由其中一条扫描线与其中一条数据线驱动。第一检测线路位于第一区，并电连接奇数条的扫描线。第二检测线路位于第一区，并电连接第4n+1条的扫描线，在此，n为0或正整数。第三检测线路位于第二区，并电连接偶数条的扫描线。第四检测线路位于第二区，并电连接第4n+2条的扫描线。

本发明另提出一种检测方法，以检测如前所述的主动元件阵列。检测方法包括有以下步骤。由第一检测线路输入第一检测信号于奇数条的扫描线中，并判断与奇数条的扫描线连接的部分像素结构是否被点亮。由第二检测线路输入第二检测信号于第4n+1条的扫描线中，而与第4n+3条的扫描线连接的部分像素结构被点亮时，视为缺陷产生。由第三检测线路输入第三检测信号于偶数条的扫描线中，并判断与偶数条的扫描线连接的部分像素结构是否被点亮。由第四检测线路输入第四检测信号于第4n+2条的扫描线中，而与第4n+4条的扫描线连接的部分像素结构被点亮时，视为缺陷产生。

基于上述，本发明的主动元件阵列及检测方法可以有效地检测出线路中的缺陷，而有助于提升主动元件阵列的成品率。

附图说明

图1所示为本发明的一实施例的主动元件阵列。

附图标号

100：主动元件阵列          110：扫描线

120：数据线                122：第一数据线检测线路

124：第二数据线检测线路    130：像素结构

132：主动元件        134：像素电极

140：第一检测线路    142：第一检测线

144：第一检测垫      146：第一检测开关

150：第二检测线路    152：第二检测线

154：第二检测垫      156：第二检测开关

160：第三检测线路    162：第三检测线

164：第三检测垫      166：第三检测开关

170：第四检测线路    172：第四检测线

174：第四检测垫      176：第四检测开关

180：第一传输线路    190：第二传输线路

com：共用线路        Cs：储存电容

Ge：第三检测信号     Geh：第四检测信号

Go：第一检测信号     Goh：第二检测信号

R1：第一区           R2：第二区

SW：开关线路

具体实施方式

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图作详细说明如下。