[发明专利]主动元件阵列以及检测方法

权利要求书

1.一种主动元件阵列，其特征在于，所述主动元件阵列包括：

多条扫描线，彼此平行排列，以在所述这些扫描线的延伸方向上定义出相对的一第一区以及一第二区；

多条数据线，所述这些数据线的延伸方向与所述这些扫描线的延伸方向相交，且所述这些数据线位于所述第一区以及所述第二区之间；

多个像素结构，位于所述第一区以及所述第二区之间，且各所述像素结构由其中一所述扫描线与其中一所述数据线驱动；

一第一检测线路，位于所述第一区，并电连接奇数条的所述这些扫描线；

一第二检测线路，位于所述第一区，并电连接第4n+1条的所述这些扫描线，其中n为0或正整数；

一第三检测线路，位于所述第二区，并电连接偶数条的所述这些扫描线；以及

一第四检测线路，位于所述第二区，并电连接第4n+2条的所述这些扫描线。

2.如权利要求1所述的主动元件阵列，其特征在于，所述第一检测线路包括：

一第一检测线；

一第一检测垫，所述第一检测垫位于所述第一检测线的一端；以及

多个第一检测开关，连接于奇数条的所述这些扫描线与所述第一检测线之间。

3.如权利要求2所述的主动元件阵列，其特征在于，所述这些第一检测开关为多个晶体管元件。

4.如权利要求1所述的主动元件阵列，其特征在于，所述第二检测线路包括：

一第二检测线；

一第二检测垫，所述第二检测垫位于所述第二检测线的一端；以及

多个第二检测开关，连接于第4n+1条的所述这些扫描线与所述第二检测线之间。

5.如权利要求4所述的主动元件阵列，其特征在于，所述这些第二检测开关为多个二极管元件。

6.如权利要求1所述的主动元件阵列，其特征在于，所述第三检测线路包括：

一第三检测线；

一第三检测垫，所述第三检测垫位于所述第三检测线的一端；以及

多个第三检测开关，连接于偶数条的所述这些扫描线与所述第三检测线之间。

7.如权利要求6所述的主动元件阵列，其特征在于，所述这些第三检测开关为多个晶体管元件。

8.如权利要求1所述的主动元件阵列，其特征在于，所述第四检测线路包括：

一第四检测线；

一第四检测垫，所述第四检测垫位于所述第四检测线的一端；以及

多个第四检测开关，连接于第4n+2条的所述这些扫描线与所述第四检测线之间。

9.如权利要求8所述的主动元件阵列，其特征在于，所述这些第四检测开关为多个二极管元件。

10.一种检测方法，其特征在于，所述检测方法检测如权利要求1所述的主动元件阵列，所述检测方法包括：

由所述第一检测线路输入所述第一检测信号于奇数条的所述这些扫描线中，并判断与奇数条的所述这些扫描线连接的部分所述这些像素结构是否被点亮；

由所述第二检测线路输入所述第二检测信号于第4n+1条的所述这些扫描线中，而与第4n+3条的所述这些扫描线连接的部分所述这些像素结构被点亮时，视为缺陷产生；

由所述第三检测线路输入所述第三检测信号于偶数条的所述这些扫描线中，并判断与偶数条的所述这些扫描线连接的部分所述这些像素结构是否被点亮；以及

由所述第四检测线路输入所述第四检测信号于第4n+2条的所述这些扫描线中，而与第4n+4条的所述这些扫描线连接的部分所述这些像素结构被点亮时，视为缺陷产生。