[发明专利]NiMnZn系铁氧体无效

专利信息
申请号: 200910175090.7 申请日: 2009-09-27
公开(公告)号: CN101712547A 公开(公告)日: 2010-05-26
发明(设计)人: 森健太郎;青木卓也 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: C04B35/26 分类号: C04B35/26;H01F1/34;H01F1/36
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: nimnzn 铁氧体
【说明书】:

技术领域

本发明提供一种例如在2MHz以上程度的高频下,能够降低磁损 耗(磁芯损耗:core loss),并能够形成高烧结密度,实现高饱和磁通 密度的新型NiMnZn系铁氧体。

背景技术

近年来,伴随电子仪器的小型化、轻量化,开关电源的小型化正 在发展。MnZn铁氧体和MnZnNi铁氧体,由于其饱和磁通密度高,所 以被广泛用于开关电源用的变压器和扼流圈等的电感元件。

现有的开关电源电路,为了减小工作电压,倾向于在高频下开关, 由此,期望用于该开关电源电路的铁氧体磁芯在高频下的磁损耗(磁 芯损耗)也低。

而且,铁氧体扼磁芯的磁损耗(磁芯损耗)由磁滞损耗、涡电流 损耗、剩余损耗构成。磁滞损耗根据直流磁滞,与频率成比例地改变; 涡电流损耗根据因电磁感应作用而产生的涡电流发生的电动势,与频 率的二次方成比例地增加;剩余损耗是剩余的损耗,可以认为:所谓 磁畴壁共鸣、自然共鸣、扩散共鸣是其产生的要因。

作为被认为与本发明相关的现有技术,有以下的文献。在日本特 开2007-51052中,提出了一种有关即使在2MHz以上的频率下也以能 够广温度范围成为低电力损耗的MnZnNi系铁氧体的方案。作为副成 分,必须含有Ta,而本发明并不是必须含有Ta。

而且,在日本特开2007-51052号中,也暗示了Nb的添加,然而, 与本发明的添加范围不同,并且,形成的所期望的平均晶体粒径也不 同。

在日本专利第3597666(日本特开平10-270231)中,提出了一种 用于电源用变压器等的磁芯且在1MHz程度以上的高频下损耗小的 MnNi铁氧体系材料的方案。

而且,也暗示了Nb的添加,但是与本发明的添加范围不同。并且, 关于形成的所期望的平均晶体粒径没有公开。仅记载了在1MHz的频 率下的实验,未记载在2MHz下的效果确认实验。

在日本特开平10-326706中,提出了一种在1MHz程度以上的高 频范围下损耗小、且烧结密度高、高强度的铁氧体材料的方案。

Nb的添加没有公开和暗示。并且,关于形成的所期望的平均晶体 粒径也没有公开。仅记载了在1MHz的频率下的实验,未记载在2MHz 下的效果确认实验。

在日本专利第3917216(日本特开平10-64715)中,提出了一种用 于开关电源等的电源变压器等、具有高的饱和磁通密度、且损耗小的 铁氧体磁芯材料的方案。

而且,也暗示了Nb的添加,但与本发明的添加范围不同。关于形 成的所期望的平均晶体粒径没有公开。仅记载了在100kHz的频率下的 实验,未记载在2MHz下的效果确认实验。

在日本专利第3597673(日本特开平11-3813)中,提出了一种在 1MHz程度以上的高频范围下损耗小的铁氧体材料的方案。

而且,也暗示了Nb的添加,但与本发明的添加范围不同。关于形 成的所期望的平均晶体粒径没有公开。仅记载了在1MHz的频率下的 实验,未记载在2MHz下的效果确认实验。

在日本特开平7-211533中,提出了一种用于开关电源等、在高频 下损耗小、且剩磁通密度小的氧化物磁性材料的制造方法的方案。

特开平7-211533涉及MnZn铁氧体,而不涉及MnZnNi铁氧体(参 照Ni=0的本发明的比较例)。

仅记载在500kMz和1MHz的频率下的实验,未记载在2MHz下 的效果确认实验。

基于这种实际情况,最期望一种可对应更高的高频铁氧体、特别 在2MHz以上程度的高频下,能够减少磁损耗(磁芯损耗)、并能够形 成高烧结密度,实现高的饱和磁通密度化的新型NiMnZn系铁氧体的 方案。

发明内容

本发明是基于这种实际情况而提出的技术方案,其目的在于:提 供一种在2MHz以上程度的高频下,能够减少磁损耗(磁芯损耗)、并 能够形成高烧结密度,实现高的饱和磁通密度化的新型NiMnZn系铁 氧体。

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