[发明专利]荧光X射线分析装置

权利要求书

1.一种荧光X射线分析装置，该荧光X射线分析装置向被测定物 照射X射线，通过测定从所述被测定物产生的荧光X射线，来分析所述 被测定物的构成元素，其特征在于，该荧光X射线分析装置具有：

输入部，其输入用于确定被测定物的特定信息；

摄像部，其取得所述被测定物的测定部位图像；

显示部，其在荧光X射线的测定后，至少显示所述被测定物的分析 结果；以及

数据库，其存储与特定信息对应的过去的测定信息，

所述测定信息包含被测定物的测定部位图像和分析结果，

所述显示部在荧光X射线的测定条件设定时，至少能够同时显示由 所述摄像部得到的所述被测定物的测定部位图像、和存储在所述数据库 中的测定信息中的与由所述输入部输入的特定信息对应的测定信息包含 的所述被测定物的过去测定时的测定部位图像，

所述输入部能够按照至少由上位层级和下位层级构成的多个不同层 级，分类输入所述被测定物的多个所述特定信息，并且，所述数据库能 够按照上述多个不同层级，分类存储多个所述特定信息。

2.根据权利要求1所述的荧光X射线分析装置，其特征在于，

当由所述输入部输入所述特定信息时，所述显示部能够一览显示多 个与所述特定信息对应的所述被测定物的过去的所述测定部位图像。

3.根据权利要求2所述的荧光X射线分析装置，其特征在于，

所述显示部能够按照测定日期时间从旧到新的测定部位的顺序，排 列显示一览显示的所述被测定物的过去的所述测定部位图像。

4.根据权利要求2所述的荧光X射线分析装置，其特征在于，

所述测定信息还包含与所述被测定物对应的测定时的测定需要时 间，

所述显示部在测定时能够显示从与所述被测定物对应的过去的所述 测定需要时间中减去测定时的测定经过时间后得到的测定剩余时间。

5.根据权利要求1～4中的任意一项所述的荧光X射线分析装置， 其特征在于，

所述测定信息还包含所述被测定物的测定条件的信息，

所述显示部在荧光X射线的测定条件设定时，还显示与所述特定信 息对应地存储在所述数据库中的测定信息中的所述被测定物的过去测定 时的测定条件。

6.根据权利要求1所述的荧光X射线分析装置，其特征在于，

所述显示部在荧光X射线的测定后，在画面上同时显示与所述特定 信息对应地存储在所述数据库中的测定信息中的所述被测定物的过去测 定时的分析结果。

7.根据权利要求1所述的荧光X射线分析装置，其特征在于，

该荧光X射线分析装置还具有判定部，该判定部判定所述被测定物 的构成元素中的特定物质的含量是否超过规定阈值，

所述分析结果包含所述判定部的判定结果，

所述显示部在荧光X射线的测定后还显示所述判定结果，

所述输入部能够编辑所述判定结果。

8.根据权利要求7所述的荧光X射线分析装置，其特征在于，

所述输入部在所述编辑时能够输入该编辑的理由，

所述显示部能够显示所述编辑前的所述判定结果和所述编辑的理 由。

9.根据权利要求7所述的荧光X射线分析装置，其特征在于，

所述特定物质是由RoHS指令限制的环境负荷物质。

10.根据权利要求8所述的荧光X射线分析装置，其特征在于，

所述特定物质是由RoHS指令限制的环境负荷物质。