[发明专利]一种提高3D离子阱检测效率的方法和装置有效
申请号: | 200910156631.1 | 申请日: | 2009-12-29 |
公开(公告)号: | CN101777483A | 公开(公告)日: | 2010-07-14 |
发明(设计)人: | 李晓旭;吴文明;郑毅;刘立鹏 | 申请(专利权)人: | 聚光科技(杭州)股份有限公司 |
主分类号: | H01J49/42 | 分类号: | H01J49/42;G01N27/62 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310052浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 离子 检测 效率 方法 装置 | ||
1.一种提高3D离子阱检测效率的方法,其特征在于:
在离子化阶段:
电子通过电子透镜,并进入所述3D离子阱;
在质量分析阶段:
没有电子通过所述电子透镜;
3D离子阱从两个方向同时出射离子:其中一方向上出射的离子在电子透镜 的作用下偏转,之后被检测;另一方向上出射的离子也被检测。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述电子透镜包括相对设置 的第一电极和第二电极,第二电极上设有便于离子或电子穿过的孔。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:在离子化阶段,加在第一电 极和第二电极上的电压相同;在质量分析阶段,加在第一电极上的电压高于第 二电极。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:在质量分析阶段,第一电子 透镜阻挡了电子的穿过。
5.根据权利要求2或3或4所述的方法,其特征在于:所述第一电极和第 二电极是半管状。
6.一种提高3D离子阱检测效率的装置,其特征在于:所述装置包括:
设置在3D离子阱的第一侧,用于检测3D离子阱从该侧出射的离子的第一 检测器;
设置在3D离子阱第二侧的电子透镜,便于电子穿过并进入所述3D离子阱;
设置在所述电子透镜侧部的第二检测器,用于在所述第一检测器检测离子 的同时检测从3D离子阱第二侧出射并经电子透镜偏转后的离子。
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