[发明专利]散射线校正方法以及散射线校正装置

权利要求书

1.一种散射线校正方法，从通过CT仿真成像收集到的多个投影 图像中除去散射线，其特征在于：

在从任意投影方向的投影图像中鉴别散射线图像的情况下，将已 鉴别了的邻接的投影方向的散射线图像作为要鉴别的散射线图像的初 始推定图像。

2.根据权利要求1所述的散射线校正方法，其特征在于：

基于通过上述CT仿真成像收集到的投影图像以及上述要鉴别的 散射线图像的初始推定图像推定1次X射线图像，基于推定的1次X 射线图像计算出第1次散射线推定图像。

3.根据权利要求1所述的散射线校正方法，其特征在于：

使用通过上述CT仿真成像收集到的与邻接的从第i投影方向到 第j投影方向相关的投影图像，计算出相加平均图像。

4.一种散射线校正方法，其特征在于：

由通过CT仿真成像收集到的多个投影图像生成各投影图像的缩 小图像，

基于上述缩小图像鉴别第1散射线图像，

扩大上述第1散射线图像，生成第2散射线图像，

通过从收集到的上述多个投影图像的各投影图像中除去对应的第 2散射线图像，以进行散射线校正，

在从通过上述CT仿真成像收集到的多个投影图像中任意投影方 向的投影图像中鉴别散射线图像的情况下，将已经鉴别的邻接的投影 方向的第1散射线图像作为要鉴别的第1散射线图像的初始推定图像。

5.根据权利要求4所述的散射线校正方法，其特征在于：

基于由通过上述CT仿真成像收集到的多个投影图像生成的各投 影图像的缩小图像以及要鉴别的上述第1散射线图像的初始推定图 像，推定1次X射线图像，

基于推定出的上述1次X射线图像计算出第1次的第1散射线推 定图像。

6.根据权利要求4所述的散射线校正方法，其特征在于：

在从通过CT仿真成像收集到的多个投影图像中除去散射线图像 的情况下，推定在邻接的从第i投影方向到第j投影方向上共用的上 述第1散射线图像以及上述第2散射线图像。

7.根据权利要求6所述的散射线校正方法，其特征在于：

使用通过上述CT仿真成像收集到的与邻接的从第i投影方向到 第j投影方向相关的投影图像，计算出相加平均图像，

对将上述相加平均图像作为投影图像的第1散射线图像以及第2 散射线图像进行鉴别，

将鉴别出的上述第1散射线图像以及上述第2散射线图像作为在 邻接的从第i投影方向到第j投影方向上共用的第1散射线图像以及 第2散射线图像。

8.一种散射线校正装置，从通过CT仿真成像收集到的多个投影 图像中除去散射线，其特征在于，包括：

推定单元，该推定单元在从任意投影方向的投影图像中鉴别散射 线图像的情况下，将已经鉴别了的邻接的投影方向的散射线图像作为 要鉴别的散射线图像的初始推定图像。

9.根据权利要求8所述的散射线校正装置，其特征在于：

上述推定单元基于通过上述CT仿真成像收集到的投影图像以及 上述要鉴别的散射线图像的初始推定图像，推定1次X射线图像，

基于推定出的1次X射线图像，计算出第1次散射线推定图像。

10.根据权利要求8所述的散射线校正装置，其特征在于：

上述推定单元使用通过上述CT仿真成像收集到的与邻接的从第 i投影方向到第j投影方向相关的投影图像，计算出相加平均图像。

11.一种散射线校正装置，其特征在于，包括：

由通过CT仿真成像收集到的多个投影图像生成各投影图像的缩 小图像的生成单元；

基于上述缩小图像，鉴别第1散射线图像的鉴别单元；

扩大上述第1散射线图像，生成第2散射线图像的生成单元；

通过从收集到的上述多个投影图像的各投影图像中除去对应的第 2散射线图像，以进行散射线校正的差分单元，

在从通过上述CT仿真成像收集到的多个投影图像中任意投影方 向的投影图像中鉴别散射线图像的情况下，将已经鉴别的邻接的投影 方向的第1散射线图像作为要鉴别的第1散射线图像的初始推定图像。