[发明专利]显示面板的检查方法无效
申请号: | 200910106300.7 | 申请日: | 2009-04-13 |
公开(公告)号: | CN101593480A | 公开(公告)日: | 2009-12-02 |
发明(设计)人: | 林俊安 | 申请(专利权)人: | 深圳华映显示科技有限公司;中华映管股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G01M11/00 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 518000广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 检查 方法 | ||
技术领域
本发明属于显示技术领域,尤其涉及一种显示面板的检查方法。
背景技术
液晶显示面板(LCD panel)已被广泛地应用在桌上型计算机、笔记型计算机、电视及其它各种电子产品中。液晶显示面板制作完成后,在送至后段模块做驱动IC的封装及系统连接前,必须先经过一道点灯测试的制程,以确定产品质量状况。
通常在液晶显示面板的边缘部分具有一终端区(terminal),其通过一软性电路板(flexible printed circuit;FPC)与一主机系统电路做信号连接。该主机系统电路所输出的信号,须先经过设在电路板上的驱动IC做信号处理,然后经处理过的信号被输出至该终端区,以驱动液晶显示面板上的像素(pixels)。
现有技术的点灯测试,是使用点灯机台提供电压给受测的液晶显示面板,然后利用人眼目视,检测液晶显示面板的各种显示缺陷。但因其采用目视的方式进行检查,故易造成误判,进而增加液晶显示面板的检查成本。
发明内容
本发明的目的在于提供一种显示面板的检查方法,旨在解决现有技术的以人眼目视所造成对显示面板质量的误判的问题。
本发明是这样实现的,一种显示面板的检查方法,所述显示面板具有多像素结构,所述检查方法包括下述步骤:
提供一测试面板,所述测试面板具有多检查像素结构,且每一个检查像素结构具有一感光组件;
将所述测试面板与所述显示面板进行对位,使每一个检查像素结构对应每一个像素结构;
点亮所述显示面板;以及
以所述测试面板的感光组件侦测每个像素结构的辉度。
进一步地,所述显示面板具有至少一第一对位标记,而所述测试面板则具有至少一第二对位标记,在所述测试面板与所述显示面板进行对位的步骤中,所述测试面板与所述显示面板的对位是透过所述第二对位标记对准所述第一对位标记。
进一步地,所述显示面板是与一测试机台耦接,在点亮所述显示面板的步骤中,所述测试机台是提供点亮所述显示面板的电力。
进一步地,所述感光组件为光电耦合组件或互补式金属氧化半导体。
在本发明中,将测试面板与显示面板进行对位,点亮显示面板后,通过所述测试面板的感光组件侦测所述显示面板中每个像素结构的辉度的方法,此检查方法不仅可解决以人眼目视所造成对显示面板质量的误判,且可增进显示面板受检查的速率与效率,进而使检查成本能够有效地被降低。
附图说明
图1是本发明较佳实施例提供的液晶显示面板的示意图;
图2是本发明较佳实施例提供的测试面板的示意图;
图3是本发明较佳实施例提供的液晶显示面板的检查方法的示意图;
图4是本发明较佳实施例提供的液晶显示面板的检查方法的步骤流程图;
图5是本发明另一实施例提供的测试面板的示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
在本发明实施例中,提出了一种将测试面板与显示面板进行对位,点亮显示面板后,通过所述测试面板的感光组件侦测所述显示面板中每个像素结构的辉度的方法,此检查方法不仅可解决以人眼目视所造成对显示面板质量的误判,且可增进显示面板受检查的速率与效率,进而使检查成本能够有效地被降低。
图1是本发明较佳实施例提供的液晶显示面板的示意图。液晶显示面板100包括显示区109、闸极驱动器103、源极驱动器105及对位标记107。显示区109中并包含有多个像素结构101。
像素结构101包括像素101a与薄膜晶体管101b,用以提供红色、绿色与蓝色来当作液晶显示面板100所需呈现的色度,即就是液晶显示面板100是利用薄膜晶体管101b的驱动来呈现出所需的色度。各闸极驱动器103分别对应至闸极配线G1~Gm,而各闸极驱动器103利用每一条闸极配线G1~Gm依序输出扫描信号(scan signal),以对应开启液晶显示面板100内的每一列像素。各源极驱动器105分别对应至源极配线S1~Sn,以驱动液晶显示面板100内的像素(pixel)。对位标记107位于显示区109外,用以决定液晶显示面板100的位置与定向。
图是本发明较佳实施例提供的测试面板的示意图。测试面板200包括感测区209、闸极驱动器203、源极驱动器205以及对位标记207,感测区209并包含多个检查像素结构201。
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