[发明专利]显示面板的检查方法无效

专利信息
申请号: 200910106300.7 申请日: 2009-04-13
公开(公告)号: CN101593480A 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 林俊安 申请(专利权)人: 深圳华映显示科技有限公司;中华映管股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G01M11/00
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 代理人: 张全文
地址: 518000广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 显示 面板 检查 方法
【权利要求书】:

1.一种显示面板的检查方法,所述显示面板具有多像素结构,其特征在于,所述检查方法包括下述步骤:

提供一测试面板,所述测试面板具有多检查像素结构,且每一个检查像素结构具有一感光组件;

将所述测试面板与所述显示面板进行对位,使每一个检查像素结构对应每一个像素结构;

点亮所述显示面板;以及

以所述测试面板的感光组件侦测每个像素结构的辉度。

2.如权利要求1所述的显示面板的检查方法,其特征在于,所述显示面板具有至少一第一对位标记,而所述测试面板则具有至少一第二对位标记,在所述将所述测试面板与所述显示面板进行对位的步骤中,所述测试面板与所述显示面板的对位是透过所述第二对位标记对准所述第一对位标记。

3.如权利要求1所述的显示面板的检查方法,其特征在于,所述显示面板与一测试机台耦接,在点亮所述显示面板的步骤中,所述测试机台是提供点亮所述显示面板的电力。

4.如权利要求1所述的显示面板的检查方法,其特征在于,所述每一个感光组件为一光电耦合组件。

5.如权利要求1所述的显示面板的检查方法,其特征在于,所述每一个感光组件为一互补式金属氧化半导体。

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