[发明专利]一种半导体发光器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200910106254.0 申请日: 2009-03-31
公开(公告)号: CN101853904A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 胡红坡;张旺;苏喜林;谢春林 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518118 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 发光 器件 及其 制造 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种半导体发光器件及其制造方法。

背景技术

以氮化镓(GaN)、氮化铟镓(InGaN)、氮化铝镓(AlGaN)和氮化铟铝镓(AlGaInN)为主的III-V族氮化物材料具有连续可调的直接带宽为0.7~6.2eV,覆盖了紫外到红外的广泛的光谱范围,是制作蓝光、绿光和白光发光器件的理想材料。现有的以蓝宝石为衬底的常规GaN基发光器件,如图1所示,其结构为:在一蓝宝石衬底层5的一表面外延生长一层n型GaN层4,n型GaN层4相对于与所述衬底层表面的一面生长一层发光层3,发光层3相对于与所述衬底层表面的一面生长一层p型GaN层2。在p型GaN层的上表面设置有一p电极1和在n型GaN层的上表面设置有的n电极6。p电极1和n电极6位于蓝宝石衬底5的同一侧。半导体发光器件工作时,电流从p电极1经过p型GaN层2、发光层3、n型GaN层4到达n电极6。由于电流在n型GaN层4中横向流动会造成电流密度分布不均匀。这种电流密度分布不均匀,不利于大电流的注入和发光器件功率的提高。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是:

在现有的半导体发光器件中,电流在n层中流过,存在电流密度不均匀的问题。

本发明所采用的主要技术方案是:

一种半导体发光器件,包括第一电极、第二电极、外延层和衬底,所述衬底具有相对的第一表面和第二表面,衬底第一表面形成有外延层,外延层的上表面形成有第一电极,其中,所述衬底包括基板和分布于基板中的导通电极,所述外延层电连接于衬底第一表面中的导通电极上,所述第二电极电连接于衬底第二表面中的导通电极上。

本发明的另一目的还在于提供一种半导体发光器件的制造方法,该制造方法包括如下步骤:

A、去除基板的至少一部分,以在基板的第一面上提供一沟槽;

B、沉积导通电极,使得该导通电极材料填平所述沟槽,形成衬底的第一表面,所述衬底还包括与第一表面相对的第二表面;

C、在衬底的第一表面上外延生长外延层;

D、在外延层上沉积透明电极并制作第一电极;

E、除去衬底第二表面的部分或者全部基板,以露出导通电极,并在露出的导通电极上制作第二电极。

本发明的技术方案的有益效果是:

本发明通过在衬底处增加导通电极,使电流垂直流过而不是横向流过外延层,解决了现有技术中电流密度不均匀的问题。

附图说明

图1现有技术中的以蓝宝石为衬底的常规GaN基发光器件的剖面图;

图2a本发明的实施例第一改进的半导体发光器件的剖面图;

图2b本发明的实施例第二改进的半导体发光器件的剖面图;

图3a本发明的实施例的外延层第一结构示意图;

图3b本发明的实施例的外延层第二结构示意图;

图4本发明实施例的半导体发光器件的衬底第一结构俯视图;

图5本发明实施例的半导体发光器件的衬底第二结构俯视图;

图6a~e一系列剖面图,示出了本发明一实施例的半导发光器件的制造步骤;

图7a~e2一系列剖面图,示出了本发明一实施例的半导发光器件的制造步骤。

具体实施方式

为了使本发明的技术方案清楚便于理解,下面结合附图通过实施例对本发明进行详细的说明。

图2a是本发明的实施例第一改进的半导体发光器件的剖面图。图2b是本发明的实施例第二改进的半导发光器件的剖面图。图3a是本发明的实施例的外延层第一结构示意图;图3b是本发明的实施例的外延层第二结构示意图;图4是本发明实施例的半导体发光器件的衬底第一结构俯视图。图5是本发明实施例的半导体发光器件的衬底第二结构俯视图。图6a~e是一系列剖面图,示出了本发明一实施例的半导发光器件的制造步骤。图7a~e2是一系列剖面图,示出了本发明一实施例的半导发光器件的制造步骤。

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