[发明专利]一种自支撑TiO2纳米管阵列薄膜及其制备方法无效

专利信息
申请号: 200910080353.6 申请日: 2009-03-19
公开(公告)号: CN101857966A 公开(公告)日: 2010-10-13
发明(设计)人: 陈清伟;徐东升 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: C25D11/26 分类号: C25D11/26;H01G9/20;H01G9/042;H01L51/42;H01L51/44;H01L51/46
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王朋飞
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 支撑 tio sub 纳米 阵列 薄膜 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种自支撑TiO2纳米管阵列薄膜,其特征在于,它由下述方法制得:

a)对钛箔进行初次阳极氧化,在钛箔上形成TiO2纳米管阵列薄膜;

b)然后将步骤a)处理得到的钛箔进行退火晶化处理;

c)再将经过上述处理的钛箔进行二次阳极氧化,在钛箔和TiO2纳米管阵列薄膜之间形成无定形TiO2氧化层;

d)最后从无定形TiO2氧化层上剥离TiO2纳米管阵列薄膜。

2.如权利要求1所述的自支撑TiO2纳米管阵列薄膜,其特征在于,步所述骤a)的钛箔的厚度在10μm以上。

3.如权利要求1所述的自支撑TiO2纳米管阵列薄膜,其特征在于,所述步骤a)得到的TiO2纳米管阵列薄膜层的厚度为2μm以上。

4.如权利要求1所述的自支撑TiO2纳米管阵列薄膜,其特征在于,所述步骤b)中退火在氧气气氛下进行,退火温度为300-550℃。

5.如权利要求1所述的自支撑TiO2纳米管阵列薄膜,其特征在于,所述步骤c)中二次阳极氧化的电压为10-30V。

6.如权利要求1所述的自支撑TiO2纳米管阵列薄膜,其特征在于,所述步骤c)中二次阳极氧化所形成的无定形TiO2氧化层厚度为50nm-3μm。

7.如权利要求1所述的自支撑TiO2纳米管阵列薄膜,其特征在于,在步骤d)之前,先将经二次阳极氧化的钛箔置于去离子水或水溶液中。

8.如权利要求1所述的自支撑TiO2纳米管阵列薄膜,其特征在于,在步骤d)之前,先将经二次阳极氧化的钛箔置于H2O2或强酸溶液中。

9.一种制备如权利要求1-8任一项所述自支撑TiO2纳米管阵列薄膜的方法,其特征在于,包括下述步骤:

a)对钛箔进行初次阳极氧化,在钛箔上形成TiO2纳米管阵列薄膜;

b)然后将步骤a)处理得到的钛箔进行退火晶化处理;

c)再将经过上述处理的钛箔进行二次阳极氧化,在钛箔和TiO2纳米管阵列薄膜之间形成无定形TiO2氧化层;

d)最后从无定形TiO2氧化层上剥离TiO2纳米管阵列薄膜。

10.一种由权利要求1-8任一项所述自支撑TiO2纳米管阵列薄膜制备的染料敏化太阳能电池。

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