[发明专利]TFT-LCD阵列基板及其制造方法和液晶显示器有效

专利信息
申请号: 200910078106.2 申请日: 2009-02-16
公开(公告)号: CN101807587A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 赵凯;黄东升 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L23/52;H01L21/84;H01L21/76;G02F1/1362
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 曲鹏
地址: 100176 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: tft lcd 阵列 及其 制造 方法 液晶显示器
【权利要求书】:

1.一种TFT-LCD阵列基板制造方法,其特征在于,包括:

步骤10、在基板上形成栅线、栅电极、数据线、漏电极、源电极、TFT 沟道和钝化层过孔的图形,所述钝化层过孔位于漏电极的上方;

步骤20、在完成步骤10的基板上沉积透明导电薄膜,通过构图工艺形 成包括像素电极和柱状隔垫物的图形,所述像素电极通过钝化层过孔与漏电 极连接,所述柱状隔垫物位于栅线和数据线的交叠处;

所述步骤20包括:

在完成步骤10的基板上,采用磁控溅射或热蒸发的方法,沉积透明导电 薄膜;

在透明导电薄膜上涂覆一层光刻胶;

采用半色调或灰色调掩模板曝光,使光刻胶形成光刻胶完全保留区域、 光刻胶完全去除区域和光刻胶半保留区域,光刻胶完全保留区域对应于柱状 隔垫物图形所在区域,光刻胶半保留区域对应于像素电极图形所在区域,光 刻胶完全去除区域对应于上述图形以外的区域;显影处理后,光刻胶完全保 留区域的光刻胶厚度没有变化,光刻胶完全去除区域的光刻胶被完全去除, 光刻胶半保留区域的光刻胶厚度变薄;

通过刻蚀工艺完全刻蚀掉光刻胶完全去除区域的透明导电薄膜;

通过灰化工艺去除光刻胶半保留区域的光刻胶,形成像素电极和柱状隔 垫物图形,所述像素电极通过钝化层过孔与漏电极连接,所述柱状隔垫物位 于栅线和数据线的交叠处,由位于下层的透明导电薄膜和位于上层的光刻胶 组成。

2.根据权利要求1所述的TFT-LCD阵列基板制造方法,其特征在于,所 述步骤10包括:

步骤11、在基板上沉积栅金属薄膜,通过构图工艺形成包括栅线和栅电 极的图形;

步骤12、在完成步骤11的基板上沉积栅绝缘层、半导体薄膜、掺杂半 导体薄膜和源漏金属薄膜,通过构图工艺形成包括数据线、漏电极、源电极 和TFT沟道的图形;

步骤13、在完成步骤12的基板上沉积钝化层,通过构图工艺形成包括 钝化层过孔的图形,所述钝化层过孔位于漏电极的上方。

3.根据权利要求1所述的TFT-LCD阵列基板制造方法,其特征在于,所 述步骤10包括:

步骤21、在基板上沉积栅金属薄膜,通过构图工艺形成包括栅线和栅电 极的图形;

步骤22、在完成步骤21的基板上沉积栅绝缘层、半导体薄膜和掺杂半 导体薄膜,通过构图工艺形成包括有源层的图形;

步骤23、在完成步骤22的基板上沉积源漏金属薄膜,通过构图工艺形 成包括数据线、漏电极、源电极和TFT沟道的图形;

步骤24、在完成步骤23的基板上沉积钝化层,通过构图工艺形成包括 钝化层过孔的图形,所述钝化层过孔位于漏电极的上方。

4.根据权利要求1所述的TFT-LCD阵列基板制造方法,其特征在于,沉 积透明导电薄膜为:沉积一层厚度为的透明导电薄膜;在透明 导电薄膜上涂覆一层光刻胶为:在透明导电薄膜上涂覆一层厚度为3μm~5 μm的光刻胶。

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