[发明专利]TFT-LCD阵列基板及其制造方法和液晶显示器有效
申请号: | 200910078106.2 | 申请日: | 2009-02-16 |
公开(公告)号: | CN101807587A | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
发明(设计)人: | 赵凯;黄东升 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L23/52;H01L21/84;H01L21/76;G02F1/1362 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 曲鹏 |
地址: | 100176 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | tft lcd 阵列 及其 制造 方法 液晶显示器 | ||
1.一种TFT-LCD阵列基板制造方法,其特征在于,包括:
步骤10、在基板上形成栅线、栅电极、数据线、漏电极、源电极、TFT 沟道和钝化层过孔的图形,所述钝化层过孔位于漏电极的上方;
步骤20、在完成步骤10的基板上沉积透明导电薄膜,通过构图工艺形 成包括像素电极和柱状隔垫物的图形,所述像素电极通过钝化层过孔与漏电 极连接,所述柱状隔垫物位于栅线和数据线的交叠处;
所述步骤20包括:
在完成步骤10的基板上,采用磁控溅射或热蒸发的方法,沉积透明导电 薄膜;
在透明导电薄膜上涂覆一层光刻胶;
采用半色调或灰色调掩模板曝光,使光刻胶形成光刻胶完全保留区域、 光刻胶完全去除区域和光刻胶半保留区域,光刻胶完全保留区域对应于柱状 隔垫物图形所在区域,光刻胶半保留区域对应于像素电极图形所在区域,光 刻胶完全去除区域对应于上述图形以外的区域;显影处理后,光刻胶完全保 留区域的光刻胶厚度没有变化,光刻胶完全去除区域的光刻胶被完全去除, 光刻胶半保留区域的光刻胶厚度变薄;
通过刻蚀工艺完全刻蚀掉光刻胶完全去除区域的透明导电薄膜;
通过灰化工艺去除光刻胶半保留区域的光刻胶,形成像素电极和柱状隔 垫物图形,所述像素电极通过钝化层过孔与漏电极连接,所述柱状隔垫物位 于栅线和数据线的交叠处,由位于下层的透明导电薄膜和位于上层的光刻胶 组成。
2.根据权利要求1所述的TFT-LCD阵列基板制造方法,其特征在于,所 述步骤10包括:
步骤11、在基板上沉积栅金属薄膜,通过构图工艺形成包括栅线和栅电 极的图形;
步骤12、在完成步骤11的基板上沉积栅绝缘层、半导体薄膜、掺杂半 导体薄膜和源漏金属薄膜,通过构图工艺形成包括数据线、漏电极、源电极 和TFT沟道的图形;
步骤13、在完成步骤12的基板上沉积钝化层,通过构图工艺形成包括 钝化层过孔的图形,所述钝化层过孔位于漏电极的上方。
3.根据权利要求1所述的TFT-LCD阵列基板制造方法,其特征在于,所 述步骤10包括:
步骤21、在基板上沉积栅金属薄膜,通过构图工艺形成包括栅线和栅电 极的图形;
步骤22、在完成步骤21的基板上沉积栅绝缘层、半导体薄膜和掺杂半 导体薄膜,通过构图工艺形成包括有源层的图形;
步骤23、在完成步骤22的基板上沉积源漏金属薄膜,通过构图工艺形 成包括数据线、漏电极、源电极和TFT沟道的图形;
步骤24、在完成步骤23的基板上沉积钝化层,通过构图工艺形成包括 钝化层过孔的图形,所述钝化层过孔位于漏电极的上方。
4.根据权利要求1所述的TFT-LCD阵列基板制造方法,其特征在于,沉 积透明导电薄膜为:沉积一层厚度为的透明导电薄膜;在透明 导电薄膜上涂覆一层光刻胶为:在透明导电薄膜上涂覆一层厚度为3μm~5 μm的光刻胶。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的