[发明专利]X射线荧光法测定助催化剂中磷、铁含量的方法有效

专利信息
申请号: 200910077978.7 申请日: 2009-02-06
公开(公告)号: CN101799437A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: 杨一青;王亚红;张忠东;刘从华;周卫军;蔡进军;马燕青;潘志爽 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N1/28
代理公司: 北京市中实友知识产权代理有限责任公司 11013 代理人: 张茵
地址: 100011 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 射线 荧光 测定 催化剂 含量 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种X-射线荧光分析法测定助催化剂中元素含量的方法。更进一步说, 就是一种采用X射线荧光法同时测定助催化剂中磷、铁含量的方法。

背景技术

在催化剂磷、铁元素分析中,目前国内外普遍采用的是化学分析法和ICP法,如 Q/SYLS0586-2002标准中所述的比色法可用于催化裂化催化剂中磷含量的分析,该方法是 将试样经过盐酸抽提,在硝酸介质中,磷酸根离子、钼酸铵和钒酸铵共同作用下,形成可 溶性的磷钼钒酸黄色络合物,进行比色测定。Q/SYLS0570-2002标准中规定了用分光光度 法测定白土型裂化催化剂中氧化铁含量的方法,该方法是将三价铁还原成二价铁后,与邻 菲罗啉生成红色的络合物,然后,用分光光度计法进行测量,其适用范围0.5~10%。该 方法操作繁琐,样品处理时间长,无法满足科研生产需求。

近年来,用X-射线荧光法分析催化剂中金属元素的专利已有报道,例如CN1400461 公开的是用X射线荧光法测定重整催化剂中铂、铕、铈元素的分析方法,CN1601261A公 开的是X射线荧光法测定催化裂化催化剂中多种金属元素的分析方法;国外有关X射线分 析的专利亦有报道,如United States Patent 5344779公开了耐火材料标准样品的制备 方法以及用X荧光光谱法测定其中微量的金属氧化物的分析方法。而用X荧光法测定催化 剂中元素含量的文献报道甚少,涉及同时分析磷铁含量的方法未见报道。

发明内容

本发明的目的是提供一种用X射线荧光法同时准确、快速测定助催化剂中磷、铁含 量的分析方法。

本发明包括以下步骤

(1)制备标准样品:制备8~10个具有不同磷、铁含量的标准样品,所述标准样品 是将已配制好的含磷、铁的标准溶液加入到已焙烧过的硅、铝载体中,然后加入混合稀土, 其中所述的混合稀土中La2O3∶CeO2∶Pr5O11∶Nd2O3的质量比为15~25∶65~80∶0.5~2.5∶0.5~2.5; 硅、铝载体中含50~80wt%的Al2O3和20~50wt%的SiO2;标准样品中磷含量为0.01~2.5wt %,铁含量为0.01~2.5wt%;

(2)标准样品压片:将制备的具有不同磷、铁含量的标准样品,各取1~2g,以2000~ 10000千克/厘米2的压力压制成片;

(3)建立元素测量的标准曲线方程:用X射线荧光仪测定步骤(2)的助催化剂标 准样品中磷、铁元素的特征谱线强度Ii,得到标准曲线方程Xi=aIi2+bIi+c,其中,Xi为磷、 铁的表观含量,Ii为元素的特征谱线强度,a、b、c为标准曲线方程系数。

(4)由于X荧光分析中基体效应比较严重,必须对标准曲线方程进行校正。校正采 用经验方程式Wi=(aIi2+bIi+c)(1+∑AijWj),得到校正系数Aij,Wi为测定金属元素i 的含量,Aij为标准样品中金属j对测定金属i影响的校正系数,Wj为标准样品中金属 元素j的表观含量。

(5)样品测定:分别测定未知助催化剂标准样品的铁、磷的谱线强度,由经验方程 联立求解得到铁、磷元素的含量。

在本发明提供的测定方法中,步骤(1)所述标准样品的制备方法为:将硅、铝载体 在800℃~900℃焙烧1h~3h,再加入预定量的磷、铁标准溶液,再加入稀土(通常为混 合稀土),稀土或说混合稀土的加入量为硅、铝载体的0.5~8wt%,加入无水乙醇,研磨 混合至均匀的粉末,将粉末转入瓷坩埚,最后蒸发、干燥,即为助催化剂标样。

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