[发明专利]一种非易失存储器的擦除方法及装置有效
申请号: | 200910077692.9 | 申请日: | 2009-02-11 |
公开(公告)号: | CN101552037A | 公开(公告)日: | 2009-10-07 |
发明(设计)人: | 潘荣华 | 申请(专利权)人: | 北京芯技佳易微电子科技有限公司 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 | 代理人: | 苏培华 |
地址: | 100084北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 非易失 存储器 擦除 方法 装置 | ||
1.一种非易失存储器的擦除方法,其特征在于,包括:
对目标擦除扇区进行预编程操作,同时启动针对与所述目标擦除扇 区位于同一存储块中的非擦除扇区的刷新操作,所述对目标擦除扇区进 行预编程操作是指对扇区中的存储单元写入0,所述刷新操作包括确定非 擦除扇区中易受干扰的存储单元的步骤,以及,对所述易受干扰的存储 单元进行编程写入操作的步骤,所述对易受干扰的存储单元进行编程写 入操作是指对存储单元写入0;
对所述目标擦除扇区进行擦除操作,所述擦除操作是指对扇区中的存 储单元写入1;
对所述目标擦除扇区进行软编程操作,所述软编程操作是指调整扇区 中存储单元的阈值电压。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述刷新操作还包括以 下步骤:
判断所述编程写入操作是否成功;
若是,则结束当前非擦除扇区的刷新操作;否则重新进行所述刷新 操作。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定易受干扰的存 储单元的步骤进一步包括:
分别采用正常读取电压和验证读取电压读取所述非擦除扇区中存储 单元的数据;
若所获得的两个数据形成干扰差异,则确定当前存储单元为易受干 扰的存储单元。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述验证读取电压大于 所述正常读取电压;所述干扰差异为采用正常读取电压读取的存储单元 的数据为0,采用验证读取电压读取的存储单元的数据为1。
5.一种非易失存储器的擦除装置,包括依次执行的对目标擦除扇区 进行擦除操作的预编程模块、擦除模块及软编程模块,其特征在于,所 述装置还包括:针对与所述目标擦除扇区位于同一存储块中的非擦除扇 区进行刷新操作的刷新模块,所述刷新模块与所述预编程模块同时触发, 具体包括以下子模块:
干扰单元确定子模块,用于确定非擦除扇区中易受干扰的存储单元;
刷新编程子模块,用于对所述易受干扰的存储单元进行编程写入操 作,所述刷新编程子模块对存储单元进行编程写入操作是指对易受干扰 的存储单元写入0;
其中,所述预编程模块用于对目标擦除扇区进行预编程操作,所述 预编程操作是指对目标擦除扇区中的存储单元写入0;所述擦除模块用于 对目标擦除扇区进行擦除操作,所述擦除操作是指对目标擦除扇区中的 存储单元写入1;所述软编程模块用于对目标擦除扇区进行软编程操作, 所述软编程操作是指调整目标擦除扇区中存储单元的阈值电压。
6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述刷新模块还包括以 下子模块:
判断子模块,用于判断所述编程写入操作是否成功,若是,则触发 结束子模块,用于结束当前非擦除扇区的刷新操作;否则重新触发所述 干扰单元确定子模块。
7.如权利要求5或6所述的装置,其特征在于,所述干扰单元确定 子模块进一步包括:
第一读取单元,用于采用正常读取电压读取所述非擦除扇区中存储 单元的数据;
第二读取单元,用于采用验证读取电压读取所述非擦除扇区中存储 单元的数据;
比较单元,用于比较所获得的两个数据并判断是否形成干扰差异, 若是,则确定当前存储单元为易受干扰的存储单元。
8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述验证读取电压大于 所述正常读取电压,所述干扰差异为采用正常读取电压读取的存储单元 的数据为0,采用验证读取电压读取的存储单元的数据为1。
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