[发明专利]用于近红外测量的恒温样品池无效

专利信息
申请号: 200910072057.1 申请日: 2009-05-19
公开(公告)号: CN101551322A 公开(公告)日: 2009-10-07
发明(设计)人: 申岩;徐晓轩;武忠臣;俞贞妮 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/35
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 代理人: 张宏威
地址: 150001黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 用于 红外 测量 恒温 样品
【权利要求书】:

1.用于近红外测量的恒温样品池,其特征是:它包括金属外壳(1)、金属内壳(2)、第一半导体热电致冷器(3-1)、第二半导体热电致冷器(3-2)、第三半导体热电致冷器(3-3)和隔热材料(10),金属内壳(2)的前表面和后表面各开有一个通光孔(11),所述两个通光孔(11)均位于金属内壳(2)的中轴线上,金属内壳(2)位于金属外壳(1)内部,第一半导体热电致冷器(3-1)位于金属外壳(1)的左侧壁和金属内壳(2)的左侧壁之间,且第一半导体热电致冷器(3-1)的两个工作面分别与金属外壳(1)的内壁和金属内壳(2)的外壁贴合,第二半导体热电致冷器(3-2)位于金属外壳(1)的右侧壁和金属内壳(2)的右侧壁之间,且第二半导体热电致冷器(3-2)的两个工作面分别与金属内壳(2)的外壁和金属外壳(1)的内壁贴合,第三半导体热电致冷器(3-3)位于金属内壳(1)的下表面和金属外壳(2)的底面之间,且第三半导体热电致冷器(3-3)的两个工作面分别与金属内壳(2)的下表面和金属外壳(1)的底面贴合,所述金属内壳(2)与金属外壳(1)之间的空隙填充隔热材料(10),第一半导体热电致冷器(3-1)、第二半导体热电致冷器(3-2)和第三半导体热电致冷器(3-3)为相同半导体热电致冷器。

2.根据权利要求1所述的用于近红外测量的恒温样品池,其特征在于它还包括第一温度传感器(4-1)、第二温度传感器(4-2)、第三温度传感器(4-3)、第四温度传感器(4-4),多路控制开关(5)、放大器(6)、A/D转换器(7)和单片机(8),第一温度传感器(4-1)位于第一半导体热电致冷器(3-1)的上方,且与金属内壳(2)的左侧面固定连接,第二温度传感器(4-2)位于第二半导体热电致冷器(3-2)的上方,且与金属内壳(2)的右侧面固定连接,第三温度传感器(4-3)和第四温度传感器(4-4)分别位于第三半导体热电致冷器(3-3)的左侧和右侧,且均与金属内壳(2)的下表面固定连接,所述第一温度传感器(4-1)的信号输出端、第二温度传感器(4-2)的信号输出端、第三温度传感器(4-3)的信号输出端和第四温度传感器(4-4)的信号输出端分别与多路控制开关(5)的第一信号输入端、第二信号输入端、第三信号输入端和第四信号输入端连接,所述多路控制开关(5)的信号输出端与放大器(6)的信号输入端连接,所述放大器(6)的信号输出端与A/D转换器(7)的信号输入端连接,所述A/D转换器(7)的信号输出端与单片机(8)的信号输入端连接,所述单片机(8)的控制信号输出端与多路控制开关(5)的控制信号输入端连接。

3.根据权利要求1或2所述的用于近红外测量的恒温样品池,其特征在于金属外壳(1)和金属内壳(2)的材料为紫铜。

4.根据权利要求3所述的用于近红外测量的恒温样品池,其特征在于隔热材料(10)为隔热泡沫。

5.根据权利要求1、2或4所述的用于近红外测量的恒温样品池,其特征在于金属外壳(1)的厚度为3mm~15mm。

6.根据权利要求5所述的用于近红外测量的恒温样品池,其特征在于金属内壳(2)的厚度为1mm~5mm。

7.根据权利要求1、2、4或6所述的用于近红外测量的恒温样品池,其特征在于第一温度传感器(4-1)、第二温度传感器(4-2)、第三温度传感器(4-3)和第四温度传感器(4-4)均为热敏电阻。

8.根据权利要求7所述的用于近红外测量的恒温样品池,其特征在于金属外壳(1)的厚度为3mm。

9.根据权利要求1、2、4、6或8所述的用于近红外测量的恒温样品池,其特征在于金属内壳(2)的厚度为1mm。

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