[发明专利]解决测试Pad使用中耐压问题的电路及方法有效
| 申请号： | 200910057702.2 | 申请日： | 2009-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN101989465A | 公开（公告）日： | 2011-03-23 |
| 发明（设计）人： | 董乔华;姚翔 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11C16/06 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 孙大为 |
| 地址： | 201206 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 解决 测试 pad 使用 耐压 问题 电路 方法 | ||
1.一种解决测试Pad使用中耐压问题的电路；包括：
测试Pad模块，包括MOS管；
存储器模块与测试Pad模块中MOS管的漏极相连接；
其特征在于，还包括：
电压转换电路与存储器模块相连接；
电压转换电路与测试Pad模块中MOS管的栅极和衬底相连接，调节MOS管栅极和衬底电位，电压转换电路向测试Pad模块输出电压V1，输出至测试Pad中的MOS管栅极和衬底；
当测试信号为最高正电压时，调整电压V1的电位到一电压；当测试信号为负电压时，调整电压V1为另一电压。
2.如权利要求1所述的解决测试Pad使用中耐压问题的电路，其特征在于，所述存储器模块为Flash或EEPROM模块。
3.如权利要求1所述的解决测试Pad使用中耐压问题的电路，其特征在于，当测试信号为最高正电压时，调整电压V1的电位到零电压；当测试信号为负电压时，调整电压V1为负电压。
4.如权利要求1所述的解决测试Pad使用中耐压问题的电路的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：
将测试Pad电路中MOS管的栅极和衬底端引出标注V1；
电压转换电路根据控制信号选择不同的输出电位；
将正电压范围的信号和负电压范围的信号分类，用不同的测试模式标识；
存储器模块中的控制电路测试到正电压范围信号时控制电路输出信号Tm＝电源电压，测试到负电压范围信号时输出信号Tm＝零电压；
当Tm＝电源电压时，电压转换电路输出V1为一电压；Tm＝零电压时，电压转换电路输出V1另一电压。
5.如权利要求1所述的解决测试Pad使用中耐压问题的电路的使用方法，其特征在于，当Tm＝电源电压时，电压转换电路输出V1＝零电压；Tm＝零电压时，电压转换电路输出V1＝负电压。
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