[发明专利]一种X染色体STR基因位点分型的荧光检测方法

权利要求书

1、一种X染色体STR基因位点分型的荧光检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)等位基因分型标准物的制备：

分别以包含3个X染色体STR基因位点DXS7132、DXS6799和DXS6804的不同基因型的质粒为模板，以5’端标记有荧光分子的引物对为引物，PCR扩增上述X染色体STR基因位点全部的等位基因，并确定PCR扩增出的等位基因的片段大小，将全部的等位基因的片段按照等摩尔比混合得到等位基因分型标准物；

其中，DXS7132基因位点PCR扩增的引物对为：

上游引物：agcccatttt cataataaat cc 22；

下游引物：荧光分子-aatcagtgct ttctgtacta ttgg  24；

DXS6799基因位点PCR扩增的引物对为：

上游引物：荧光分子-atgaattcag aattatcctc atacc 25；

下游引物：gaaccaacct gcttttctga    20；

DXS6804基因位点PCR扩增的引物对为：

上游引物：荧光分子-cccagatatt ttgaccacca       20；

下游引物：ggcatgtggt tgctataacc    20；

2)PCR扩增待测X染色体的STR等位基因：

以包含待测X染色体的基因组为模板，以步骤1)所述的3个X染色体的STR基因位点PCR扩增的引物对为引物，在同一扩增体系PCR扩增待测X染色体包含的3个X染色体的STR等位基因；

3)荧光检测分型

以PCR扩增到的带有荧光分子标记的等位基因分型标准物和待测X染色体的STR等位基因片段进行毛细管电泳分离；采用荧光显色方法，根据电泳分离结果对待测X染色体进行标准化分型。

2、如权利要求1所述的X染色体STR基因位点分型的荧光检测方法，其特征在于，所述的荧光分子为FAM、JOE、ROX、HEX或TMR。

3、如权利要求1所述的X染色体STR基因位点分型的荧光检测方法，其特征在于，所述PCR扩增的参数为：94℃预变性6min，94℃变性30秒，60℃复性35秒，72℃延伸30秒，30个循环，最后72℃延伸10min。

4、如权利要求1所述的X染色体STR基因位点分型的荧光检测方法，其特征在于，所述的DXS7132基因位点的重复序列为cata，包含6个等位基因，PCR扩增的等位基因片段大小为278-298bp。

5、如权利要求1所述的X染色体STR基因位点分型的荧光检测方法，其特征在于，所述的DXS6799基因位点的重复序列为tatc，包含8个等位基因，PCR扩增的等位基因片段大小为230-258bp。

6、如权利要求1所述的X染色体STR基因位点分型的荧光检测方法，其特征在于，所述的DXS6804基因位点的重复序列为atag，包含10个等位基因，PCR扩增的等位基因片段大小为161-197bp。