[发明专利]在沉积工艺期间在硅棒中产生均匀温度分布的装置和方法有效
| 申请号: | 200910008153.X | 申请日: | 2009-03-09 |
| 公开(公告)号: | CN101559948A | 公开(公告)日: | 2009-10-21 |
| 发明(设计)人: | P·瓦尔迈尔 | 申请(专利权)人: | 安奕极电源系统有限责任公司 |
| 主分类号: | C01B33/035 | 分类号: | C01B33/035 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 赵 科 |
| 地址: | 荷兰兹*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 沉积 工艺 期间 硅棒中 产生 均匀 温度 分布 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于在根据Siemens(西门子)方法的硅沉积 (Abscheiden)期间向至少一个硅棒(Siliziumstab)供电的装置。 本发明还涉及一种利用这种装置在根据Siemens方法的硅沉积期间向 至少一个硅棒供电的方法。
背景技术
在根据Siemens方法的硅沉积期间向硅棒供电的装置是现有技术 公知的。这种装置具有输入端,其中该装置可以利用该输入端连接到 用于提供电能的供电网。这些装置还具有至少一个输出端,其中一个 或多个硅棒可以连接到这些输出端。一个或多个交流电调节器 (Wechselstromsteller)向连接到该至少一个输出端的硅棒提供来自 该供电网的电流。借助该交流电调节器,可以调节电流强度和电压, 并由此还可以调节在硅棒中热转换的电功率。
在根据Siemens方法制造硅棒时,借助这些装置向反应器 (Reaktor)中的硅棒提供电流。反应器被填充以三氯硅烷 (Trichlorsilan)并且处于压力之下。在硅棒中通过电流所转换的热 消耗功率导致硅棒发热。硅棒的表面温度达到大约1100℃。在该温 度下,三氯硅烷分解并且在引入氢(Wasserstoffzugang)的情况下 离解(dissoziieren)为硅和氯化氢(Chlorwasserstoff)。硅在位于 反应器中的硅棒上沉积。沉积过程使得硅棒的直径在该过程的运行过 程中增长大约1mm/h。硅棒的横截面积由此增大。在硅棒的电阻率 (spezifischen Widerstand)保持不变的情况下,更大的横截面积会 导致硅棒电阻的下降。此外,电流密度从关于半径恒定的大小改变为 强烈依赖于半径的大小。在硅棒的直径为7-10mm的情况下,电阻与 半径无关。在直径更大时,硅棒内部的电流密度比外部更大。
由于硅的导电性随着温度而增加,并且硅的导热性随着温度而下 降,因此电流在硅棒中心的聚集(Einschnuerung)导致温度从内部 向外部下降。这种温度下降可以表现到极致,使得硅棒达到大于 1460℃的内部温度,而硅棒外侧面的温度为1100℃。但是,硅棒核 心中1460℃的温度会导致硅棒核心中的硅熔化。结果,硅可能从硅 棒流出,并且硅棒遭到损坏。因此,沉积温度 (Abscheidetemperatur)必须被调节为使得核心温度不超过硅的熔 化温度(Schmelztemperatur)。
但是,人们又希望沉积温度尽可能高,以便实现大的硅棒生长或 高的沉积速度。
在WO97/36822的国际专利申请公开文献中公开了一种根据 Siemens方法在硅棒上沉积硅的装置。该文献还涉及在硅棒的核心和 外表面之间温度下降的问题。在该文献中建议进行另一次加热,该加 热在硅棒中产生涡流(Wirbelstrom)。该涡流产生具有预定频率的 磁交变场。由此实现电流密度的改变。电流密度从硅棒的外表面到硅 棒的核心变得更均匀,从而产生分布更为均匀的温度。
在该文献中所提出的装置很费事,因为除了常规的用于加热硅棒 的电阻加热之外还需要进行第二加热,也就是涡流加热。
德国专利商标局的公开文献DE19882883T1公开了一种装置,该 装置利用在高频或中频电流时出现在导体中的集肤效应,以便在硅棒 内部实现均匀的温度分布。在该公开的装置中,只进行一次加热,即 电阻加热。但是,该电阻加热是由不同频率的电流形成的。根据该公 开文献的技术教导,首先在硅棒上施加低频电压。当硅棒的温度超过 预定值时,断开该低频电压并施加具有更高频率的电压。向硅棒提供 电能的装置在文献DE19882883T1中未详细描述。
在文献DE19882883T1所公开的方法向硅棒只提供低频电流或只 提供高频或低频电流,其缺点是在向硅棒只提供高频或中频电压时会 出现比较高的感生损耗(induktive Verluste)。
发明内容
本发明基于上述现有技术的背景要解决的技术问题是,提供一种 用于向至少一个硅棒供电的装置,其中利用该装置,在连接的硅棒中 达到均匀的温度分布和电流密度分布。其中,优选地,感生损耗应当 被保持得尽可能的低。
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