[发明专利]降低存储器漏电流的方法与存储器存取方法无效
申请号: | 200910004734.6 | 申请日: | 2009-02-23 |
公开(公告)号: | CN101814324A | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
发明(设计)人: | 张全仁 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/52 | 分类号: | G11C29/52 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 骆希聪 |
地址: | 中国台湾桃园县龟山*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 降低 存储器 漏电 方法 存取 | ||
1.一种降低存储器漏电流的方法,其特征在于,包括:
在一存储器开机时,执行一备用栏位检测,以找出上述存储器的损坏存储单元;
根据备用栏位检测结果,切断上述损坏存储单元与一预充电电压源间的一电流路径,以避免上述损坏存储单元出现漏电流。
2.如权利要求1所述的降低存储器漏电流的方法,其特征在于,上述存储器更包括:一熔丝炼盒,一修补单元,一定址单元,一闩锁器与一限流单元,
上述备用栏位检测包括:
将先前所检测到的损坏存储单元的相关地址记录于上述熔丝炼盒内的一熔丝信息内。
3.如权利要求2所述的降低存储器漏电流的方法,其特征在于,上述备用栏位检测包括:
上述修补单元比对上述存储器的所有相关地址与上述熔丝信息,以找出上述损坏存储单元与其相关地址,上述修补单元并送出一比对结果。
4.如权利要求3所述的降低存储器漏电流的方法,其特征在于,更包括:
上述修补单元送出上述比对结果至上述定址单元。
5.如权利要求4所述的降低存储器漏电流的方法,其特征在于,更包括:
根据上述比对结果,上述定址单元找出相关于上述损坏存储单元的上述闩锁器。
6.如权利要求5所述的降低存储器漏电流的方法,其特征在于,更包括:
上述修补单元将上述比对结果送至所找出的上述闩锁器。
7.如权利要求6所述的降低存储器漏电流的方法,其特征在于,更包括:
根据上述比对结果,所找出的上述闩锁器送出一控制信号,以关闭上述损坏存储单元所对应的上述限流单元,如此,以切断上述损坏存储单元与上述预充电电压源间的上述电流路径。
8.一种存储器存取方法,其特征在于,包括:
在一存储器开机时,执行一备用栏位检测,以找出上述存储器的损坏存储单元;
利用上述存储器的备用存储单元来修补上述损坏存储单元;
根据备用栏位检测结果,切断上述损坏存储单元与一预充电电压源间的一电流路径;以及
当上述存储器处于预充电状态时,使得上述损坏存储单元的位元线不会被预充电,以避免上述损坏存储单元出现漏电流。
9.如权利要求8所述的存储器存取方法,其特征在于,上述存储器更包括:一熔丝炼盒,一修补单元,一定址单元,一闩锁器与一限流单元,
上述备用栏位检测包括:
将先前所检测到的损坏存储单元的相关地址记录于上述熔丝炼盒内的一熔丝信息内。
10.如权利要求9所述的存储器存取方法,其特征在于,上述备用栏位检测包括:
上述修补单元比对上述存储器的所有相关地址与上述熔丝信息,以找出上述损坏存储单元与其相关地址,上述修补单元并送出一比对结果。
11.如权利要求10所述的存储器存取方法,其特征在于,更包括:
上述修补单元送出上述比对结果至上述定址单元。
12.如权利要求11所述的存储器存取方法,其特征在于,更包括:
根据上述比对结果,上述定址单元找出相关于上述损坏存储单元的上述闩锁器。
13.如权利要求12所述的存储器存取方法,其特征在于,更包括:
上述修补单元将上述比对结果送至所找出的上述闩锁器。
14.如权利要求13所述的存储器存取方法,其特征在于,更包括:
根据上述比对结果,所找出的上述闩锁器送出一控制信号,以关闭上述损坏存储单元所对应的上述限流单元,如此,以切断上述损坏存储单元与上述预充电电压源间的上述电流路径。
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